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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
摘要：本公开提供了一种存储电路、测试方法及其存储器，该存储电路包括存储阵列和压缩电路；在测试过程中，在接收到读指令后，存储阵列产生多个读取数据组；压缩电路基于掩蔽选择信号对多个读取数据组进行压缩处理，产生测试结果数据；其中，掩蔽选择信号指示压缩电路掩蔽多个读取数据组中的部分数据。
主权项：1.一种存储电路，其特征在于，所述存储电路包括存储阵列和压缩电路；其中，所述存储阵列，包括多个存储列组，每个所述存储列组存储的测试数据均相同，配置为在测试过程中对所述测试数据进行存储，并在接收到读指令后，控制从每一所述存储列组中输出一个读取数据组；所述压缩电路，与所述存储阵列连接，配置为接收掩蔽选择信号和多个所述读取数据组，基于所述掩蔽选择信号对多个所述读取数据组进行压缩处理，产生测试结果数据；其中，所述掩蔽选择信号指示所述压缩电路掩蔽多个所述读取数据组中的部分数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长鑫存储技术有限公司 一种存储电路、测试方法及其存储器
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