买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:上海航天精密机械研究所
摘要:本发明公开了基于多线阵图像的舱体外型面加工质量检测方法:采集舱体标准件在不同高度位置的原始线阵图,输出舱体标准件完整缩比图;创建舱体外型面第1个待检特征的检测项目在舱体标准件完整缩比图中的矩形区域坐标;继续同理创建并配置下一个待检特征的检测项目,直到完成创建并配置所有待检特征检测项目,汇总输出舱体外型面检测模板;采集舱体加工件在不同高度位置的原始线阵图,输出舱体加工件完整缩比图;从舱体外型面检测模板中读取待检特征检测项目及其配置同步调用特征错漏判定模块比对舱体加工件完整缩比图与舱体标准件完整缩比图,批量并发执行所有检测项目;汇总写入所有检测项目的质量结果数据,出具舱体外型面加工质量检测报告。
主权项:1.基于多线阵图像的舱体外型面加工质量检测系统,其特征在于:包括硬件层、算法层、应用层、用户层;所述硬件层包括至少一个线阵相机、隧道光源和转台;其中,所述线阵相机用于逐行采集舱体在不同高度位置的外型面图像;所述隧道光源用于线性高亮照明舱体外型面,保证均匀清晰成像;所述转台用于匀速回转舱体使得舱体外型面与线阵相机产生相对运动,保证舱体各高度位置的一周外型面均可被线阵相机采集并输出多张舱体外型面展开的原始线阵图;所述算法层包括多图像缩比拼接模块、特征区域映射模块、孔轮廓提取模块、槽轮廓提取模块、孔径质量判定模块、孔间角度质量判定模块、孔间距离质量判定模块、槽尺寸质量判定模块、特征错漏判定模块;其中,所述多图像缩比拼接模块用于多张原始线阵图拼接合成单张完整缩比图的处理计算;所述特征区域映射模块用于同一特征在完整缩比图中框选矩形区域坐标映射至在原始线阵图中配对子图矩形区域坐标的处理计算;所述孔轮廓提取模块用于从原始线阵图配对子图中提取孔特征内外圆轮廓的处理计算;所述槽轮廓提取模块用于从原始线阵图配对子图中提取槽特征矩形轮廓的处理计算;所述孔径质量判定模块用于计算孔特征内外圆直径的实测值,并与理论尺寸比较判定合格与否;所述孔间角度质量判定模块用于计算两孔特征之间角度的实测值,并与理论尺寸比较判定合格与否;所述孔间距离质量判定模块用于计算两孔特征之间轴向距离的实测值,并与理论尺寸比较判定合格与否;所述槽尺寸质量判定模块用于计算槽长、宽的实测值,并与理论尺寸比较判定合格与否;所述特征错漏判定模块用于比对舱体加工件完整缩比图与舱体标准件完整缩比图之间的特征差异,判定是否存在本不应有却被错加工出的特征或本应有却遗漏未加工的特征;所述应用层包括检测任务管理模块、检测图像采集模块、检测模板配置模块、检测判定模块、检测报告模块;其中,所述检测任务管理模块用于提供检测任务接收、检测模板调用、自动检测启动、检测结果查询上传业务功能;所述检测图像采集模块用于提供原始线阵图采集、完整缩比图拼接合成业务功能;所述检测模板配置模块用于提供待检特征检测项目参数定制化配置的业务功能;所述检测判定模块用于提供待检特征轮廓提取、检测项目质量判定、错漏加工判定业务功能;所述检测报告模块用于提供检测项目质量结果数据汇总、检测报告填写出具业务功能;所述用户层包括图形用户界面,所述图形用户界面用于提供舱体完整缩比图及检测报告显示、待检特征矩形区域框选图文显示与交互操作功能。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海航天精密机械研究所 基于多线阵图像的舱体外型面加工质量检测系统及方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。