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申请/专利权人：深圳市中兴微电子技术有限公司
摘要：本公开提供了一种计算采样时偏的方法，其包括：获取每个子采样模块对输入信号的多个采样结果；根据基准子采样模块的多个采样结果、各采样结果对应的第一理论结果、各采样结果对应的第二理论结果，确定基准子采样模块的采样时偏；第一理论结果为输入信号在采样结果对应的预定采样时间时的理论值；第二理论结果为求导信号在采样结果对应的预定采样时间时的理论值，求导信号为输入信号的导数；根据基准子采样模块的采样时偏、非基准子采样模块的多个采样结果、各采样结果对应的第一理论结果、各采样结果对应的第二理论结果，确定非基准子采样模块的采样时偏。本公开还提供了一种时间交织采样设备、计算机可读介质。
主权项：1.一种计算采样时偏的方法，用于包括多个子采样模块的时间交织采样设备，所述时间交织采样设备配置为接收输入信号，所述子采样模块配置为在各自的预定采样时间对所述输入信号采样；所述方法包括：获取每个所述子采样模块对输入信号的多个采样结果；每个所述采样结果为所述子采样模块在一个预定采样时间进行采样得到的结果；根据基准子采样模块的多个采样结果、各采样结果对应的第一理论结果、各采样结果对应的第二理论结果，确定所述基准子采样模块的采样时偏；所述基准子采样模块为多个所述子采样模块中的一个；所述第一理论结果为所述输入信号在所述采样结果对应的预定采样时间时的理论值；所述第二理论结果为求导信号在所述采样结果对应的预定采样时间时的理论值，所述求导信号为所述输入信号的导数；根据所述基准子采样模块的采样时偏、非基准子采样模块的多个采样结果、各采样结果对应的第一理论结果、各采样结果对应的第二理论结果，确定所述非基准子采样模块的采样时偏；所述非基准子采样模块为除所述基准子采样模块外的所述子采样模块。
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百度查询： 深圳市中兴微电子技术有限公司 计算采样时偏的方法、时间交织采样设备、可读介质
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