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申请/专利权人：长春希达电子技术有限公司
摘要：一种Micro‑LED发光芯片测试方法，涉及Micro‑LED显示技术领域，解决现有采用TFT的AM驱动技术驱动Micro‑LED显示器时，由于TFT和LED的性能差异会造成红绿蓝LED亮度匹配不均造成灰度过度不均匀以及亮度不均匀性的问题。方法通过基于PCB基板设计Micro‑LED测试阵列模组，阵列内部采用并联方式将LED阵列连接，外部采用电压源直接驱动方式保证加载到每颗LED上的电压是一致的。通过测试红绿蓝三基色Micro‑LED阵列模组从0灰阶到255灰阶的数据电压计算得红绿蓝模组最小灰阶电压的公约数以及Micro‑LED白场最小的灰阶等级。本发明适用于Micro‑LED显示领域。
主权项：1.一种Micro-LED发光芯片测试方法，其特征在于，方法为：步骤1：基于PCB基板设计Micro-LED测试阵列模组；步骤2：阵列内部采用并联方式分别将红绿蓝LED阵列连接；步骤3：设置电压源从0V开始，每次增长0.01V，直至达到设定的最高电压V，每增长一次电压记录一次亮度值，同时记录对应的电流值；步骤4：分别提取红绿蓝三种Micro-LED模块对应的最高目标亮度实测值和最低目标亮度实测值及其相对应的电压值数据；步骤5：通过最高亮度对应的数据电压和最低亮度对应的数据电压求得每一级灰度的数据电压增量；步骤6：根据每一级灰度的数据电压增量得到红绿蓝Micro-LED显示模块每一级灰度的数据电压，并计算得到红绿蓝模组最小灰阶电压的公约数；步骤7：根据红绿蓝模组最小灰阶电压的公约数得到对应的最小灰阶；步骤8：选取红绿蓝每一级灰度的数据电压增量中的最大值，结合最小灰阶，得到Micro-LED白场最小的灰阶等级。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春希达电子技术有限公司 一种Micro-LED发光芯片测试方法
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