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申请/专利权人：上海新微技术研发中心有限公司
摘要：本发明提供一种热电器件的测试方法，包括如下步骤：获取热电器件的结构和材料参数，根据热电器件结构和材料参数，得热电器件模型；设置热电器件模型的加热端温度为A，设定热电材料层两端温差为m，设定热电器件模型所处环境的空气对流传热系数；建立有限元网格并进行传热模拟，热电器件模型中的热电材料层两端温差达到设定值m时终止模拟，得热电器件模型各层的温度分布，提取冷却端温度B；将热电器件安装在测试结构中，控制热电器件的上下表面温度分别达到加热端温度A和冷却端温度B，稳定后测试热电器件的电学输出性能。本方法通过引入有限元模拟计算，解决了现有技术中无法对热电材料层两端的温度进行准确控制的问题。
主权项：1.一种热电器件的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、获取热电器件的结构和材料参数，所述热电器件为多层结构，根据获取的所述多层结构建立三维结构模型，根据获取的所述材料参数对所述三维结构模型中每一层进行参数设定，得到热电器件模型；S2、设置所述热电器件模型的加热端温度为A，设定热电材料层两端温差为m，设定所述热电器件模型所处环境的空气对流传热系数；S3、建立有限元网格并进行传热模拟，得到所述热电器件模型各层的温度分布，所述传热模拟终止模拟过程条件为所述热电器件模型中的热电材料层两端温差达到设定值m，提取此时的冷却端温度B；S4、将热电器件安装在测试结构中，通过测试结构控制所述热电器件的上下表面温度分别达到热电器件模型模拟过程中的所述加热端温度A和所述冷却端温度B，稳定所述加热端温度A以及所述冷却端温度B，并测试所述热电器件的电学输出性能。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海新微技术研发中心有限公司 一种热电器件的测试方法
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