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申请/专利权人：中国工程物理研究院计量测试中心

摘要：针对现有校准规范或方法无法应用于宽温域三维摄影测量系统的校准，本发明提出了一种适于宽温域三维摄影测量系统的离散组合式校准装置。该校准装置包括多组彼此离散设置的长度标准器组，通过二分法迭代寻优在每一组长度标准器组中的合适位置设置固定安装机构和浮动安装机构实现长度标准器一端固定安装、一端浮动安装，不仅实现长度标准器在宽温域范围具有热变形自由，还有效降低接触、自重、温度等多场耦合情况下的综合变形，减少长度标准器变形对校准结果的影响，提高量传的准确度，满足宽温域三维摄影测量系统校准精度。同时还克服了现有多面体校准框架加工复杂、溯源困难、量传准确度低的难题，具有广阔的应用前景。

主权项：1.一种宽温域三维摄影测量系统的离散组合式校准装置，其特征在于，所述校准装置包括多组彼此离散设置的长度标准器组；所述彼此离散设置的长度标准器组均包括长度标准器、固定安装机构、浮动安装机构、工字安装梁、固定立柱；在距离长度标准器一端L1处通过固定安装机构将长度标准器与工字安装梁固定连接，在距离长度标准器另一端L2处通过浮动安装机构将长度标准器与工字安装梁浮动连接，实现长度标准器随着温度的变化自由伸长或缩短；所述工字安装梁安装在固定立柱上；所述L1＝L2，所述L1的确定方法包括如下步骤：S10确定满足工作要求的最小变形误差限δ、工作温域范围T2～T1和长度标准器参考值L，其中T2＜T1，确定长度标准器检定状态的综合变形：最高温度T1时的综合变形δH、最低温度T2时的综合变形δL；S20以bi、wi作为迭代仿真计算的支撑点，计算最高温T1状态下bi、wi耦合场综合变形分别为δHbi和δHwi，计算最低温T2状态下bi、wi耦合场综合变形δLbi和δLwi；其中i为大于等于1的正整数；S30求解校准状态与检定状态综合变形的差值ΔHbi、ΔHwi、ΔLbi、ΔLwi，确定相对最优支撑点；其中，ΔHbi＝δHbi-δH，ΔHwi＝δHwi-δH，ΔLbi＝δLbi-δL，ΔLwi＝δLwi-δL；S40判断S30步骤中相对最优支撑点最高温T1和最低温T2对应的校准状态与检定状态综合变形的差值是否均小于最小变形误差限δ，若是，则所述相对最优支撑点为长度标准器组的最优支撑点，最优支撑点到长度标准器端部最小距离为L1；若否，则设S30步骤中的相对最优支撑点为第i+1次迭代仿真计算中一个支撑点bi+1，以二分法构造第i+1次迭代仿真计算的另一个支撑点位置为wi+1＝bi+wi2，以bi+1、wi+1作为第i+1次迭代仿真计算的支撑点重复步骤S20至步骤S40，直至新的相对最优支撑点在最高温T1和最低温T2对应的校准状态与检定状态综合变形的差值均小于最小变形误差限δ时，得到满足最小变形原则的最优支撑点位置。

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百度查询： 中国工程物理研究院计量测试中心 一种宽温域三维摄影测量系统的离散组合式校准装置