买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：北京航空航天大学

摘要：本发明公开了一种多光频梳动态光谱检测系统和方法，其特征在于，所述的多光频梳动态光谱检测系统包括多光频梳光源、待测系统、分光器件、合光器件1、合光器件2、光探测器1、光探测器2、数据采集处理单元；多光频梳光源产生具有重复频率f1的采样光1、具有重复频率f0的激励光与具有重复频率f2的采样光2，且采样光1与激励光重复频率差的绝对值Δf10＝|f1‑f0|与采样光2与激励光重复频率差的绝对值Δf20＝|f2‑f0|不相等；激励光经过待测系统，形成包含待测系统的动态光谱信息的信号光；分光器件将信号光分为两路，其中一路与采样光1通过合光器件1进行合光，另一路与采样光2通过合光器件2进行合光；光探测器1对合光器件1的输出进行互相关检测，同时光探测器2对合光器件2的输出进行互相关检测，同时获得对待测系统的动态光谱信息的两组采样信号；数据采集处理单元对两组采样信号进行采集，通过处理获得待测系统的动态光谱信息的特性。本发明能够实现对待测系统动态光谱的测量。

主权项：1.一种多光频梳动态光谱检测系统，其特征在于，所述的多光频梳动态光谱检测系统包括多光频梳光源、待测系统、分光器件、合光器件1、合光器件2、光探测器1、光探测器2、数据采集处理单元；多光频梳光源产生具有重复频率f1的采样光1、具有重复频率f0的激励光与具有重复频率f2的采样光2，且采样光1与激励光重复频率差的绝对值Δf10=|f1-f0|与采样光2与激励光重复频率差的绝对值Δf20=|f2-f0|不相等；激励光经过待测系统，形成包含待测系统的动态光谱信息的信号光；分光器件将信号光分为两路，其中一路与采样光1通过合光器件1进行合光，另一路与采样光2通过合光器件2进行合光；光探测器1对合光器件1的输出进行互相关检测，光探测器2对合光器件2的输出进行互相关检测，同时获得对待测系统的动态光谱信息的两组采样信号；数据采集处理单元对两组采样信号进行采集，通过处理获得待测系统的动态光谱的特性；其检测步骤如下：步骤1、多光频梳光源产生具有重复频率f1的采样光1、具有重复频率f0的激励光与具有重复频率f2的采样光2，且采样光1与激励光重复频率差的绝对值Δf10=|f1-f0|与采样光2与激励光重复频率差的绝对值Δf20=|f2-f0|不相等；步骤2、激励光经过待测系统，形成包含待测系统的动态光谱信息的信号光；步骤3、分光器件将信号光分为两路，其中一路与采样光1通过合光器件1进行合光，另一路与采样光2通过合光器件2进行合光；步骤4、光探测器1对合光器件1的输出进行互相关检测，同时光探测器2对合光器件2的输出进行互相关检测，同时获得对待测系统的动态光谱信息的两组采样信号；步骤5、数据采集处理单元对两组采样信号进行采集，通过处理获得待测系统的动态光谱信息的特性。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京航空航天大学 一种多光频梳动态光谱检测系统和方法