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芯片自定义测试方法、装置、计算机设备及介质 

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申请/专利权人:苏州华兴源创科技股份有限公司

摘要:本申请涉及一种芯片自定义测试方法、装置、计算机设备及介质,其中,方法包括:根据预设指定路径加载测试配置文件列表;响应基于测试配置文件列表执行的测试需求选择操作,导入需要测试的配置文件;根据需要测试的配置文件,获取测试脚本路径、并基于测试脚本路径读取脚本文件;基于读取的脚本文本执行脚本应用、且采用闭环接口方法测试芯片不同类型参数;推送芯片不同类型参数测试结果。整个过程中,基于预设指定路径来加载测试配置文件列表,以让用户进行测试需求选择操作,导入对应需要测试的配置文件,再针对性读取脚本文件来进行测试,满足用户自定义测试的需求。

主权项:1.一种芯片自定义测试方法,其特征在于,所述方法包括:根据预设指定路径加载测试配置文件列表;响应基于所述测试配置文件列表执行的测试需求选择操作,导入需要测试的配置文件;根据需要测试的配置文件,获取测试脚本路径、并基于所述测试脚本路径读取脚本文件;基于读取的脚本文本执行脚本应用、且采用闭环接口方法测试芯片不同类型参数;推送芯片不同类型参数测试结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州华兴源创科技股份有限公司 芯片自定义测试方法、装置、计算机设备及介质

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