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申请/专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种内存测试方法、系统、电子设备及存储介质，应用于中央处理器，该中央处理器包括第一向量寄存器、第二向量寄存器和通用寄存器，该方法包括：通过第一向量寄存器运行内存测试操作指令，对内存进行读写访问；将通用寄存器中的数据写入第二向量寄存器中，并将第二向量寄存器的全部数据写入内存中；将内存中的数据读取至第一向量寄存器中，第一向量寄存器与所述二向量寄存器进行异或比较，判断内存是否正常。本发明将多个向量寄存器组合，根据内存测试算法的原理通过底层汇编进行加速，可以有效提高内存测试算法的测试效率，缩短测试时间。
主权项：1.一种内存测试方法，其特征在于，应用于中央处理器，所述中央处理器包括第一向量寄存器、第二向量寄存器和通用寄存器，所述方法包括：通过所述第一向量寄存器运行内存测试操作指令，对内存进行读写访问；将所述通用寄存器中的数据写入所述第二向量寄存器中，并将所述第二向量寄存器的全部数据写入所述内存中；将所述内存中的数据读取至所述第一向量寄存器中，将所述第一向量寄存器与所述第二向量寄存器进行异或比较，判断所述内存是否正常。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳佰维存储科技股份有限公司 内存测试方法、系统、电子设备及存储介质
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