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申请/专利权人：长沙金维集成电路股份有限公司
摘要：本发明涉及芯片电压范围分析技术领域，尤其涉及一种芯片工作温度区间内工作电压范围自动测试系统及方法。所述方法包括以下步骤：设计芯片初始化数据；根据预设的芯片最大负载工况指令将芯片最大负载工况指令传输至初始芯片进行最大负载工况运行，以得到运行芯片；根据芯片初始化数据对运行芯片执行工作电压范围测试作业；对工作电压范围测试作业进行工作电压测试数据采集，生成工作电压测试数据；根据工作电压测试数据进行工作电压范围特征分析，生成工作电压范围特征数据，并将工作电压范围特征数据反馈至终端。本发明实现芯片工作温度区间内工作电压范围的自动测试。
主权项：1.一种芯片工作温度区间内工作电压范围自动测试方法，其特征在于，包括以下步骤：设计芯片初始化数据；根据预设的芯片最大负载工况指令将芯片最大负载工况指令传输至初始芯片进行最大负载工况运行，以得到运行芯片，其中所述初始芯片包括未经过可靠性试验作业的功能正常的芯片以及经过可靠性试验作业的功能正常的芯片；根据芯片初始化数据对运行芯片执行工作电压范围测试作业；对工作电压范围测试作业进行工作电压测试数据采集，生成工作电压测试数据；根据工作电压测试数据进行工作电压范围特征分析，生成工作电压范围特征数据，并将工作电压范围特征数据反馈至终端。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长沙金维集成电路股份有限公司 一种芯片工作温度区间内工作电压范围自动测试系统及方法
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