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调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质 

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申请/专利权人:北京开源芯片研究院

摘要:本发明实施例提供一种调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括:构建在所述测试平台中运行的软件模拟模型;所述软件模拟模型包括用于测试所述调试模块内寄存器的JTAG读写模型、用于测试数据读写的处理器核模型以及用于测试内存访问的内存模型;根据所述软件模拟模型的类型,在预设的测试任务库中,分别获取不同类型对应的目标测试任务;所述测试任务库中有预先构建的至少一个测试任务;根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例;基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试。本发明可以提高调试模块的测试便捷性。

主权项:1.一种调试模块的测试方法,其特征在于,应用于测试平台,所述测试平台连接到调试模块,所述方法包括:构建在所述测试平台中运行的软件模拟模型;所述软件模拟模型包括用于测试所述调试模块内寄存器的JTAG读写模型、用于测试数据读写的处理器核模型以及用于测试内存访问的内存模型;根据所述软件模拟模型的类型,在预设的测试任务库中,分别获取不同类型对应的目标测试任务;所述测试任务库中有预先构建的至少一个测试任务;根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例;基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试;所述基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试的步骤,包括:将所述目标测试用例输入所述内存模型和所述JTAG读写模型,所述内存模型用于执行所述目标测试用例中的内存建模任务以构建模拟内存,所述模拟内存中存储有预设值;所述JTAG读写模型用于执行所述目标测试用例中的数据读取任务以输出数据读取信号;将所述数据读取信号输入到所述调试模块,以对所述调试模块进行测试;所述调试模块用于接收并响应于所述数据读取信号,在所述模拟内存中读取并输出所述预设值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京开源芯片研究院 调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质

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