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申请/专利权人：中国科学院新疆天文台;杭州电子科技大学

摘要：本发明涉及一种超高屏蔽效能测量方法，包括：步骤S1，搭建屏蔽效能测量系统；步骤S2，测量信号源发射信号频率与信号分析仪对应接收信号频率的频率偏差，对进行屏蔽效能测量时设定的所有测试频点对应的频率进行频偏补偿；步骤S3，完成频偏补偿后，对信号分析仪进行1dB压缩点测试，获取信号分析仪在所有测试频点下的1dB压缩点功率，计算信号源在所有测试频点下的动态匹配功率；步骤S4，搭建参考电平测量系统，测量信号分析仪在所有测试频点下的参考电平；步骤S5，在屏蔽效能测量系统中测量经过屏蔽后所有测试频点对应的功率值，并根据参考电平，获取待测屏蔽室的屏蔽效能。本发明实现了超高性能屏蔽效能测量要求。

主权项：1.一种超高屏蔽效能测量方法，其特征在于，包括：步骤S1，搭建屏蔽效能测量系统，所述屏蔽效能测量系统包括发射装置、接收装置以及与所述发射装置、所述接收装置连接的控制装置；所述发射装置包括信号源、与所述信号源连接的发射天线以及与所述信号源连接的第一光电转换器，所述发射天线安装于待测屏蔽室中；所述接收装置包括信号分析仪以及与所述信号分析仪连接的接收天线，所述接收天线的前端设置有放大器；所述控制装置包括控制系统以及与所述控制系统连接的第二光电转换器，所述第二光电转换器与所述第一光电转换器连接，并与所述信号分析仪连接；步骤S2，将所述信号源和所述信号分析仪取出，测量所述信号源发射信号频率与所述信号分析仪对应接收信号频率的频率偏差，对进行屏蔽效能测量时设定的所有测试频点对应的频率进行频偏补偿，得到频偏补偿后的频率；步骤S3，完成频偏补偿后，对所述信号分析仪进行1dB压缩点测试，获取所述信号分析仪在所述所有测试频点下的1dB压缩点功率，并计算所述信号源在所述所有测试频点下的动态匹配功率；步骤S4，将所述信号源和所述信号分析仪放回所述屏蔽效能测量系统，离开所述待测屏蔽室，并将所述发射装置和所述接收装置置于微波暗室中，搭建参考电平测量系统，测量所述信号分析仪在所述所有测试频点下的参考电平；步骤S5，离开所述微波暗室，放回所述待测屏蔽室，测量经过屏蔽后所述所有测试频点对应的功率值，并根据所述参考电平，获取所述待测屏蔽室的屏蔽效能。

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