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申请/专利权人:江苏乾禧环保科技有限公司
摘要:本发明属于陶粒生产合格度分析技术领域,特别涉及陶粒粒径合格度分析技术,具体公开一种陶粒生产合格度检测分析方法,本发明在检测前对批量陶粒按照形状轮廓进行相似分组,进而在进行各检测组的粒径检测时以前一个陶粒的检测时长为参照动态设置进样间隔时长,实现了大批量陶粒粒径检测时的灵活性进样,大大缩短了进样等待时长,在提高检测效率的同时提高检测设备的利用率,与此同时通过对各检测组中的陶粒进行连续检测得到连续检测相似形状轮廓的陶粒集合,有助于形成更连贯和可比较的数据集,该数据集使得每个陶粒的粒径检测结果不会独立存在,能够更容易进行统计分析,进而更方便、准确地评估批量陶粒中的粒径分布特征。
主权项:1.一种陶粒生产合格度检测分析方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、统计待进行粒径合格度检测的批量陶粒数量,并对各陶粒进行表面三维扫描,得到各陶粒的形状轮廓;S2、将各陶粒的形状轮廓进行对比,由此将批量陶粒进行相似分组,得到若干检测组;S3、分析各检测组对应的陶粒形状规则度,并将其结合各检测组中含有的陶粒数量确定各检测组的检测顺序;S4、按照各检测组的检测顺序依次调取各检测组放入检测设备的供给装置中,并动态设置进样间隔时长;S5、在当前检测组检测结束后针对当前检测组内各陶粒的粒径进行差异分析,评判是否需要二次粒径检测;S6、当评判需要二次检测后对检测设备进行校准后对相应检测组进行二次粒径检测;S7、在所有检测组均检测结束后基于各检测组对应的粒径进行陶粒粒径合格度分析;所述将批量陶粒进行相似分组实施如下:S21、将各陶粒按照预设的顺序进行编号,并按照编号顺序依次提取各陶粒作为目标陶粒,进而将目标陶粒对应的形状轮廓与其他陶粒的形状轮廓进行重合对比,得到以各陶粒作为目标陶粒与其他陶粒的形状重合度;S22、将以各陶粒作为目标陶粒与其他陶粒的形状重合度与设置的重合度阈值进行对比,从中提取形状重合度大于或等于重合度阈值的其他陶粒连同目标陶粒构成了若干检测组;所述分析各检测组对应的陶粒形状规则度参见下述步骤:选取形状规则的陶粒作为参照陶粒,并采集参照陶粒的三维图像,从中提取边界轮廓,进而利用图像处理软件基于参照陶粒的边界轮廓得到参照陶粒的形状参数;取各检测组对应的目标陶粒同理进行形状参数提取,由此将各检测组对应目标陶粒的形状参数与参照陶粒的形状参数进行对比,得到各项形状参数的对比差值,并将各项形状参数的对比差值与参照陶粒的形状参数作比,进而以预设常量分之一为底数,以各项形状参数的对比差值的绝对值与参照陶粒的形状参数作比结果的累加值为指数,得到各检测组对应的陶粒形状规则度;所述确定各检测组的检测顺序如下操作:将各检测组含有的陶粒数量与批量陶粒数量对比,得到各检测组对应的陶粒占比;将各检测组对应的陶粒占比和陶粒形状规则度进行加权平均计算,得到各检测组对应的检测优先度;按照检测优先度降序方式对各检测组进行排列,得到各检测组的检测顺序;所述动态设置进样间隔时长实施如下:S41、在进行各检测组的陶粒粒径分布检测时确定各检测组内陶粒的进样顺序;S42、在按照进样顺序进行第一个陶粒检测后记录检测时长,由此初始设置陶粒的进样间隔时长;S43、在下一个陶粒按照确定的进样间隔时长进行进样检测后记录检测时长,并与上一个陶粒的检测时长进行对比,若对比一致,则保持初始设置的陶粒进样间隔时长,反之则执行S44;S44、针对下一个陶粒的检测时长对初始设置的进样间隔时长进行调整修正后进行后续陶粒进样;所述针对当前检测组内各陶粒的粒径进行差异分析参见下述过程:将当前检测组内各陶粒的粒径进行对比,从中选取中位粒径和平均粒径;将当前检测组对应的中位粒径和平均粒径进行作差,并将作差结果的绝对值除以中位粒径,得到当前检测组对应的粒径分布差异度;所述评判是否需要二次粒径检测如下操作:将当前检测组对应的粒径分布差异度与预配的允许差异度进行对比,若当前检测组对应的粒径分布差异度大于允许差异度,则评判需要二次粒径检测;所述陶粒粒径合格度分析如下:S71、基于各检测组中各陶粒的粒径绘制每个检测组的陶粒粒径分布图;S72、从每个检测组的陶粒粒径分布图提取粒径分布图形状,并与规格要求分布形状进行重合对比,得到各检测组对应的粒径分布符合度;S73、收集历史合格的陶粒样品的粒径数据作为参考粒径数据确定各检测组对应的合格粒径范围;S74、将各检测组中各陶粒的粒径与相应检测组对应的合格粒径范围进行对比,统计落入合格粒径范围内的陶粒比例值;S75、将各检测组对应的粒径分布符合度结合落入合格粒径范围内的陶粒比例值进行加权平均后进行得到各检测组对应的陶粒粒径符合度;S76、将各检测组对应的陶粒粒径符合度与设置的达标符合度进行对比,从中统计达到达标符合度的检测组所占百分比,得到批量陶粒的粒径合格度。
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