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申请/专利权人:富士胶片株式会社
申请日:2023-04-10
公开(公告)日:2025-01-17
公开(公告)号:CN119325561A
专利技术分类:...测试缺陷或杂质存在(G01N23/09优先)[2018.01]
专利摘要:本发明公开了一种信息处理装置、信息处理方法及信息处理程序。信息处理装置获取包括结构信息中的照射方向的变换参数,使用变换参数,将检查图像中的检查对象物的缺陷的位置变换为结构信息中的位置,所述变换参数用于将通过对检查对象物沿着照射方向照射放射线而拍摄的检查图像内的位置变换为表示检查对象物的三维结构的结构信息的位置。
专利权项:1.一种信息处理装置,其具备至少一个处理器,其中,所述处理器执行以下处理:获取变换参数,所述变换参数用于将通过对检查对象物沿着照射方向照射放射线而拍摄的检查图像内的位置变换为表示所述检查对象物的三维结构的结构信息的位置,且所述变换参数包括所述结构信息中的所述照射方向,使用所述变换参数,将所述检查图像中的所述检查对象物的缺陷的位置变换为所述结构信息中的位置。
百度查询: 富士胶片株式会社 信息处理装置、信息处理方法及信息处理程序
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