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龙图腾网恭喜全何科技股份有限公司申请的专利内存芯片超频测试模块及其方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112309492B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-01-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910710991.5，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权内存芯片超频测试模块及其方法是由洪康宁设计研发完成，并于2019-08-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本内存芯片超频测试模块及其方法在说明书摘要公布了：本发明为一种内存芯片超频测试模块及其方法，应用在两阶段的内存芯片测试制程中，筛检不同速度的内存芯片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接测试盘区、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对内存做第一阶段的测试及筛选，经过第一阶段预测试机台筛选通过的内存，将在测试机台进行完整的内存芯片测试。提高效率、准确度及减少误判。

本发明授权内存芯片超频测试模块及其方法在权利要求书中公布了：1.一种内存芯片超频测试模块，应用在筛检不同速度的内存芯片，其特征在于，包括：一测试盘区，放置待测试的内存芯片；一定位暂存盘，所述定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区，所述定位区用以调整内存芯片的排列；至少一预测试机台，且所述预测试机台内设定有一预测试参数；多个测试机台；以及一机械手臂，所述机械手臂用以抓取内存芯片，且所述机械手臂电性连接所述测试盘区、所述定位暂存盘、所述至少一预测试机台以及多个所述测试机台；其中所述机械手臂从所述测试盘区抓取内存芯片至所述定位暂存盘的所述定位区，使内存芯片排列一致，再次抓取内存芯片移动至所述至少一预测试机台，借由所述至少一预测试机台依据所述预测试参数对内存芯片进行第一阶段筛检，通过第一阶段筛检的内存芯片由所述机械手臂移动到所述测试机台，对内存芯片进行完整芯片测试，所述暂存区用以存放等待进行完整芯片测试的内存芯片，未通过测试的内存芯片则由所述机械手臂移回所述测试盘区；所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘，所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片，所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片，所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片；所述预测试参数，依据使用者筛选出特定速度的内存芯片做设定，所述预测试参数需比筛选出的特定速度高。

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