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龙图腾网恭喜ARM有限公司申请的专利用于测试存储器应用的方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111326207B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201911292620.6，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权用于测试存储器应用的方法和设备是由安迪·旺坤·陈;扬尼斯·雅拉米翁-格里韦;西里尔·尼古拉·德雷设计研发完成，并于2019-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于测试存储器应用的方法和设备在说明书摘要公布了：本文描述的各种实施方式涉及具有耦接到存储器的编码器的设备。ECC编码器从存储器内置自测电路接收输入数据，通过对输入数据进行编码并将校验比特添加到输入数据来生成经编码的数据，并将经编码的数据写入存储器。该设备可以具有耦接到存储器的ECC解码器。ECC解码器从存储器中读取经编码的数据，通过对经编码的数据进行解码并从经编码的数据中提取校验比特来生成经校正的数据，并提供经校正的数据和双比特错误标志作为输出。ECC解码器具有纠错逻辑，纠错逻辑基于校验比特来对经解码的数据执行纠错，其中，如果纠错逻辑在经解码的数据中检测到多比特错误，则纠错逻辑对经解码的数据中的多比特错误进行校正以提供经校正的数据。

本发明授权用于测试存储器应用的方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种用于测试存储器应用的方法，包括：识别存储器以进行纠错，其中，所述存储器具有以列和行布置的比特单元阵列；利用错误累积分析所述列中的列相关数据来检测所述列中的列错误的数量；利用列冗余来修复所述列中的所述列相关数据，包括利用所述列冗余来修复每列中的多个列错误；利用错误累积分析所述行中的行相关数据来检测所述行中的行错误的数量；以及利用行冗余来修复所述行中的所述行相关数据，包括利用所述行冗余来修复每行中的多个行错误，其中，修复所述列相关数据包括向每列写入多个数据序列、从每列读取所述多个数据序列、将写入的数据序列与读取的数据序列进行比较、以及利用所述列冗余修复每列中的列错误，并且其中，修复所述行相关数据包括向每行写入多个数据序列、从每行读取所述多个数据序列、将写入的数据序列与读取的数据序列进行比较、以及利用所述行冗余修复每行中的行错误。

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