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龙图腾网恭喜中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种微壳体谐振陀螺阻尼均匀性修调方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119309602B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411862009.3，技术领域涉及：G01C25/00；该发明授权一种微壳体谐振陀螺阻尼均匀性修调方法与系统是由席翔;石岩;朱峰;肖定邦;吴学忠;刘佳;廖琛设计研发完成，并于2024-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微壳体谐振陀螺阻尼均匀性修调方法与系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种微壳体谐振陀螺阻尼均匀性修调方法与系统，该方法包括：对金属化后的微壳体谐振子进行装配和振型进动，并每隔X°进行振动的自由衰减；对振型进动过程中自由衰减的数据进行采样，并拟合得到微壳体谐振子阻尼周向不均匀性曲线；将Q值最高的轴定义为低阻尼轴，将Q值最低的轴定义为高阻尼轴，并将低阻尼轴与高阻尼轴当前Q值的最大差值定义为ΔQ；在低阻尼轴上溅射沉积薄膜进行阻尼不均匀修调，直至是否满足阻尼不均匀性要求。本发明应用于微机电技术领域，通过在微壳体谐振子的外表面沉积薄膜的方法实现阻尼不均匀性的修调，能在不引起表面污染的前提下修调所有阻尼因素带来的阻尼不均匀。

本发明授权一种微壳体谐振陀螺阻尼均匀性修调方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种微壳体谐振陀螺阻尼均匀性修调方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，对金属化后的微壳体谐振子进行装配和振型进动，并每隔X°进行振动的自由衰减；步骤2，对微壳体陀螺在振型进动过程中自由衰减的数据进行采样，并拟合得到Q值信息及其对应的振型角度，形成微壳体谐振子阻尼周向不均匀性曲线；步骤3，在微壳体谐振子阻尼周向不均匀性曲线中，将Q值最高的轴定义为低阻尼轴，将Q值最低的轴定义为高阻尼轴，并将低阻尼轴与高阻尼轴当前Q值的最大差值定义为ΔQ；步骤4，在微壳体谐振子的低阻尼轴上溅射沉积薄膜进行阻尼不均匀修调，再对修调后的微壳体谐振子再进行步骤1至步骤3得到新的ΔQ，并判断新的ΔQ是否满足阻尼不均匀性要求：若是，输出当前的微壳体谐振子；否则，再次进行步骤4。

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