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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119125852B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411595171.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质是由李玫;赖璟设计研发完成，并于2024-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片数据处理技术领域，具体公开一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质，该方法通过监测并记录测试芯片的内部关键动态变化参数，以此量化评估测试芯片的内部波动指数，并筛选出性能稳定的芯片并进行后续封装处理，可减少芯片的售后维修和更换的需求，以提高芯片使用可靠性，获取预审芯片封装处理过程的封装参数，由此分析预审芯片的封装稳定指数，为优化芯片的封装工艺提供数据依据，最后获取终检芯片的工作参数，判定终检芯片的工作干扰指数，有助于识别芯片在工作过程中遇到的问题，为改进芯片设计提供方向，由此对终检芯片测试进行管理反馈，以完成对芯片的多维度测试管理过程。

本发明授权一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种量化芯片测试管理方法，其特征在于，包括：S1.基于测试芯片的测试执行过程，监测并记录测试芯片在测试执行周期内的内部关键动态变化参数，以此量化评估测试芯片的内部波动指数；S2.将测试芯片的内部波动指数与内部波动阈值进行比对，若测试芯片的内部波动指数小于内部波动阈值，则将测试芯片标记为预审芯片并进行封装处理，获取预审芯片的封装参数，由此分析预审芯片的封装稳定指数；S3.将封装处理完成的预审芯片记为终检芯片，获取终检芯片的工作参数，判定终检芯片的工作干扰指数，由此对终检芯片测试进行管理反馈，最终完成芯片的测试管理过程，所述终检芯片的工作干扰指数是通过终检芯片在芯片工作子周期内的耗电量波动幅度、耗电量波动偏移总值以及所属地平面的平均粗糙度综合分析得到的，用于评估终检芯片对相邻芯片工作干扰程度的数值，具体表达式为： ；其中，GX为终检芯片的工作干扰指数，m_avg为终检芯片在芯片工作子周期内的耗电量波动幅度，BC为终检芯片在芯片工作子周期内的耗电量波动偏移总值，ICH为终检芯片所属地平面的平均粗糙度，ICHJ为粗糙度界定值，fg1为芯片管理信息库中预设的耗电量波动幅度单位数值对应的影响因子，fg2为芯片管理信息库中预设的耗电量波动偏移总值单位数值对应的影响因子，fg3为芯片管理信息库中预设的平均粗糙度对应的修正因子。

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