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龙图腾网恭喜中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112268528B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011290303.3，技术领域涉及：G01B11/26；该发明授权一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置及测量方法是由孙聊新;张健;陆卫设计研发完成，并于2020-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置及测量方法，包括：科勒照明模块，角分辨光谱测试模块，显微物镜，三维平移台，角度位移台，微型反射镜。通过三维位移台可以精确调整微反射镜的位置，在进行角度测量时，通过精密的三维位移台可以将微型反射镜位置复位，减小位移移动所带来的实验误差。其中微反射镜是角度精确测量的核心部件，其微型化设计方便对短工作距离、大数值孔径物镜傅里叶面的角度进行测量。本发明提供了一种简易的、基于科勒照明的显微角分辨光谱系统角度测量装置及测量方法，所述装置可以作为独立模块对目前常规商用角分辨谱仪或实验室自行搭建开放式角分辨系统进行精确的角度测量。

本发明授权一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置，包括：三维位移台（1），角度旋转位移台（2），微型反射镜（3），显微物镜（4），分束器（5），科勒照明模块（6），平面反射镜（7），角分辨成像光路系统（8），光谱仪配面阵CCD（9），其特征在于：所述的角度旋转位移台（2）固定在三维位移台（1）上，微型反射镜（3）固定在角度旋转位移台（2）上；工作时，科勒照明模块（6）发出的光束经分束器（5）45°反射之后，到达显微物镜（4）后会垂直照射在微型反射镜（3）上，光束垂直反射之后有一部分光会穿过分束器（5）到达平面反射镜（7），再经过角分辨成像光路系统（8），最终在光谱仪配面阵CCD（9）上成像；科勒照明光路配置下显微物镜（4）后焦平面数值孔径所决定的亮暗边界将由显微物镜（4）物方平面的微型反射镜（3）的旋转角度所控制，三维位移台（1）精确调整微型反射镜（3）的位置。

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