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龙图腾网恭喜深圳佰维存储科技股份有限公司申请的专利SSD测试系统及SSD测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111930574B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010582061.9，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权SSD测试系统及SSD测试方法是由邹志明;李振华设计研发完成，并于2020-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本SSD测试系统及SSD测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种SSD测试系统，该SSD测试系统包括依次连接的测试主机、拓展板和多个SSD测试载板，所述SSD测试载板用于安装SSD；所述测试主机，用于下发与待测功能对应的测试主信号；所述拓展板，用于接收所述测试主信号，将所述测试主信号解析成多个测试分信号并下发给所述SSD测试载板；所述SSD测试载板，用于对应接收所述测试分信号，以根据所述测试分信号对多个SSD进行功能测试。本发明的SSD测试系统可实现SSD多项功能的集中测试，简化了SSD功能测试过程，提高了测试能力以及测试效率。此外，本发明还公开了一种SSD测试方法。

本发明授权SSD测试系统及SSD测试方法在权利要求书中公布了：1.一种SSD测试系统，其特征在于，包括依次连接的测试主机、拓展板和多个SSD测试载板，所述SSD测试载板用于安装SSD；所述测试主机，用于下发与待测功能对应的测试主信号；所述拓展板，用于接收所述测试主信号，将所述测试主信号解析成多个测试分信号并下发给所述SSD测试载板；所述SSD测试载板，用于对应接收所述测试分信号，以根据所述测试分信号对多个SSD进行功能测试；所述拓展板为若干块，多个所述SSD测试载板组成SSD测试载板组，每一所述SSD测试载板组对应一块所述拓展板；其中，所述测试主机用于下发与待测功能对应的测试主信号，包括：所述测试主机通过下发对应不同待测功能的测试主信号，以使得所述SSD测试载板对SSD进行不同功能的测试，不同功能的测试包括一次开卡测试、RDT坏块测试、BIT机内自测试和二次开卡测试中的至少两种。

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