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龙图腾网恭喜西湖大学申请的专利微区变角掠入射广角散射测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119246575B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411776031.6，技术领域涉及：G01N23/20；该发明授权微区变角掠入射广角散射测试方法是由缪晓和;陆颖设计研发完成，并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本微区变角掠入射广角散射测试方法在说明书摘要公布了：本发明提出了基于单晶X射线衍射仪的微区变角掠入射广角散射测试方法，包括对沉积在衬底上的测试材料制样并置于改进样品架，该改进样品架有特定结构及驱动器用于控制入射角等；选定X射线光源并对准样品，采用铜靶与钼靶切换配合；进行Z‑scan扫描及沿光路方向及垂直光路方向倾转扫描，设定相关参数；通过二维面探测器采集散射后的X射线；最后经软件积分得到相关图。改进样品架的台面尺寸、扫描参数等有特定要求，还设有高度参考位、调节结构等，连接部位通过螺接安装于设备样品台。本发明解决了现有技术中入射角和高度控制不精确等问题，提高了测试准确性和可靠性。

本发明授权微区变角掠入射广角散射测试方法在权利要求书中公布了：1.微区变角掠入射广角散射测试方法，基于单晶四元单晶衍射仪，其特征在于，包括以下步骤：S00、对沉积在衬底上的测试材料进行制样并置于改进样品架上；其中，所述改进样品架用于替代单晶衍射仪原有的样品架，且该改进样品架上设有用于放置测试材料的台面、Z轴高度参考位、用于驱动该改进样品架沿Z轴来回移动的高度调节驱动器、用于驱动改进样品架沿光路方向做曲线摇摆运动的弧度调节驱动器以及与单晶衍射仪样品台配合的连接部位，通过弧度调节驱动器实现入射角的控制；S10、选定X射线光源，使X射线光源对准样品，采用铜靶与钼靶切换配合；S20、在单晶衍射仪的Z-scan扫描模式下，在竖直方向上进行X射线光强度扫描，通过单晶衍射仪的升降驱动部件将带衬底的测试材料调整至测试高度；S30、在改进样品架上进行沿着光路方向的倾转扫描，从光通量最小扫描至光最强再到光最弱，取光强最强时的Theta角度作为光路方向的零点，同时设定样品与单晶衍射仪的探测面的距离、曝光时间和入射角；S40、通过二维面探测器采集散射后的X射线；S50、通过单晶衍射仪的软件进行积分得到X射线一维散射图；不断改变入射角角度，不断通过二维面探测器采集散射后的X射线，并通过软件积分，得到一系列X射线一维散射图。

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