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龙图腾网恭喜上海集迦电子科技有限公司申请的专利一种间隙测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119197292B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411697466.1，技术领域涉及：G01B7/14；该发明授权一种间隙测量方法及装置是由雷祥设计研发完成，并于2024-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种间隙测量方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供了间隙测量方法，应用于测量模组，测量模组包括金属壳体，金属壳体内设置有上电极、电路板、测量电路与下电极，电路板与壳体固定连接，电路板与壳体底部存在间隙，测量电路位于电路板上，上电极与下电极分别与位于电路板上的测量电路电连接，上电极与下电极位于电路板的相对的两侧；该方法，包括以下步骤：基于上电极，获取测量电路测量的初步间隙数据；基于下电极，获取测量电路测量的补偿间隙数据；根据初步间隙数据、补偿间隙数据及预设的第一参考调整数据计算得到目标间隙数据。本申请实现更精确的测量承载基座和目标导体部件之间的间隙距离及两个平面的平行度的功能，从而提高产品的生产质量。

本发明授权一种间隙测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种间隙测量方法，其特征在于：应用于测量模组，所述测量模组包括金属壳体，所述金属壳体内设置有上电极、电路板、测量电路1与下电极，所述电路板与所述金属壳体固定连接，所述电路板与所述金属壳体底部存在间隙，所述测量电路1位于所述电路板上，所述上电极与所述下电极分别与所述测量电路1电连接，所述上电极与所述下电极位于所述电路板的相对的两侧；所述方法，包括以下步骤：基于所述上电极，获取所述测量电路1测量的初步间隙数据，所述初步间隙数据用于指示所述上电极与目标导体部件之间的第一距离；基于所述下电极，获取所述测量电路1测量的补偿间隙数据，所述补偿间隙数据用于指示所述下电极与所述金属壳体底部之间的第二距离；根据所述初步间隙数据、所述补偿间隙数据以及预设的第一参考调整数据计算得到目标间隙数据；所述基于所述下电极，获取所述测量电路1测量的补偿间隙数据，包括：所述测量电路1给所述下电极施加激励电压，以使所述下电极与所述金属壳体底部之间形成第二电容器，所述测量电路1对所述第二电容器进行电容值采样得到第二采样数据，所述第二采样数据用于指示当前所测的所述下电极与所述金属壳体底部之间的间隙；通过多次调整所述激励电压以使所述测量电路1测量得到多个第二采样数据；对多个所述第二采样数据进行平均运算得到有效的第二采样数据；根据所述有效的第二采样数据、所述下电极与所述金属壳体底部之间的实际间隙、预设的第二参考调整数据以及预设的环境因子影响数据计算得到所述补偿间隙数据；所述根据所述有效的第二采样数据、所述下电极与所述金属壳体底部之间的实际间隙、预设的第二参考调整数据以及预设的环境因子影响数据计算得到所述补偿间隙数据，包括：将所述有效的第二采样数据、所述下电极与所述金属壳体底部之间的实际间隙、预设的第二参考调整数据以及预设的环境因子影响数据输入预设的第一计算模型，基于所述预设的第一计算模型的计算公式为：Dr=krdr-dt+T+br，其中，Dr为补偿间隙数据，dr为下电极与金属壳体底部之间的实际间隙，dt为有效的第二采样数据，T为预设的环境因子影响数据，kr、br为预设的第二参考调整数据；通过所述预设的第一计算模型计算得到所述补偿间隙数据。

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