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龙图腾网恭喜西京学院申请的专利一种基于可逆热流法测量高中子注量率的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115064290B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111564178.5，技术领域涉及：G21C17/108；该发明授权一种基于可逆热流法测量高中子注量率的方法是由杨铜锁;朱庆福;史永谦;张建祥;王璠;彭旦;鲁瑾;辛督强设计研发完成，并于2021-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于可逆热流法测量高中子注量率的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于可逆热流法测量高中子注量率的方法，该方法包含：S100选用硼晶体；S200得到n份刻度样品包；S300将刻度样品包分别放入中子注量率恒定的热中子核反应堆中辐照；S400用调制差示扫描量热法扫描其对应可逆热流曲线；S500以刻度探测器样品包的中子注量和可逆热流变化量拟合；S600把待测样品在待测中子注量率的反应堆辐照后，测量出可逆热流改变量，求出待测样品在待测堆所受的中子注量，根据辐照时间算出待测堆辐照样品时的注量率。本发明的方法能够根据辐照注量和可逆热流改变量的关系获得中子注量率，特别适合测量高注量核反应堆中子注量率。

本发明授权一种基于可逆热流法测量高中子注量率的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于可逆热流法测量高中子注量率的方法，其特征在于，该方法包含：S100将硼晶体分为两部分，一部分作为刻度探测器的样品使用，一部分作为待测样品；S200将刻度探测器的样品分为n份，n≥5，用聚乙烯薄膜包裹，得到n份刻度样品包；S300将n份刻度样品包分别放入中子注量率恒定的热中子核反应堆中辐照，辐照时间分别为tn，得到n份受到不同辐照注量的刻度样品包；S400分别对n份刻度样品包用调制差示扫描量热法扫描其对应可逆热流曲线，条件为：保护气体为氮气，调制温度±0.477℃min，调制周期为60s，扫描速率3℃min，温度范围35℃～135℃，在42℃～125℃积分其可逆热流变化量；S500获得各刻度探测器样品包的可逆热流变化量和对应的中子注量，以刻度探测器样品包的中子注量和可逆热流变化量拟合，得到拟合方程为y＝ax+b，y为可逆热流变化量，x为中子注量，a为拟合得到的系数，b为拟合得到的常数；S600把待测样品在待测中子注量率的反应堆辐照时间t后，用步骤S400的调制差示扫描量热法测量出可逆热流改变量，作为拟合方程中的y值，将y值代入拟合方程求出待测样品在待测堆所受的中子注量x，根据辐照时间t算出待测堆辐照样品时的注量率。

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