恭喜龙芯中科技术股份有限公司张鹏获国家专利权
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龙图腾网恭喜龙芯中科技术股份有限公司申请的专利测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114328037B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011066462.5，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质是由张鹏设计研发完成，并于2020-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：确定多个测试向量；其中，多个测试向量针对芯片中的同一测试问题，且多个测试向量中任意两个测试向量对应的测试问题的测试频率不同；分别对每个测试向量进行划分，获取每个测试向量的配置部分和测试端口部分；存储多个测量向量的信息；其中，多个测试向量的信息包括获取的每个测试向量的配置部分和任意一个测试向量的测试端口部分。本申请的方法，通过将测试向量分成配置部分及测试端口部分进行存储，由于只存储了一个相同的测试端口部分，节省了测试向量的占用空间，并没有改变测试向量本身的性质，因此提高了测试结果的准确性。
本发明授权测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种测试向量的存储方法，应用于芯片中，其特征在于，包括：确定多个测试向量；其中，所述多个测试向量针对所述芯片中的同一测试问题，且所述多个测试向量中任意两个测试向量对应的所述测试问题的测试频率不同；分别对每个所述测试向量进行划分，获取每个所述测试向量的配置部分和测试端口部分；其中，每个所述测试向量的配置部分不同，每个所述测试向量的测试端口部分相同；存储所述多个测量向量的信息；其中，所述多个测试向量的信息包括获取的每个所述测试向量的配置部分和任意一个所述测试向量的测试端口部分。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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