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龙图腾网恭喜杭州高坤电子科技有限公司申请的专利一种电子元器件测试方法、系统、智能终端及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119536236B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510081699.7，技术领域涉及：G05B23/02；该发明授权一种电子元器件测试方法、系统、智能终端及存储介质是由胡久恒;赵兴贵设计研发完成，并于2025-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元器件测试方法、系统、智能终端及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种电子元器件测试方法、系统、智能终端及存储介质，涉及电子元器件测试技术领域，其方法包括：响应于检测到测试操作，将测试指令存储至第一存储空间，以及将微指令存储至第二存储空间，微指令与测试指令存在关联信息；优先读取微指令，确定微指令对应的目标测试指令并确定目标微指令在操作后对应的测试指令位置；根据测试指令位置从第一存储空间中读取本次测试使用的当前测试指令；按照当前测试指令和测试指令位置，生成电子元器件的测试指令运行逻辑；按照测试指令运行逻辑执行测试指令，以完成对电子元器件的测试。本申请具有减小指令的存储空间，提高测试速度的效果。

本发明授权一种电子元器件测试方法、系统、智能终端及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件测试方法，其特征在于，包括：响应于检测到测试操作，将测试指令存储至第一存储空间，以及将微指令存储至第二存储空间，所述微指令与所述测试指令存在关联信息，所述测试指令是对电子元器件上的各个pin脚的高低电平的控制信息，所述微指令是所述电子元器件的特殊状态指令；读取所述微指令，确定所述微指令对应的目标测试指令并确定所述目标测试指令在操作后对应的测试指令位置，所述测试指令位置指经过所述微指令的操作之后，所述目标测试指令的下一条测试指令的位置；根据所述测试指令位置从所述第一存储空间中读取本次测试使用的当前测试指令；按照所述当前测试指令和所述测试指令位置，生成电子元器件的测试指令运行逻辑；按照所述测试指令运行逻辑执行所述测试指令，以完成对所述电子元器件的测试。

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