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龙图腾网恭喜中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种穆勒矩阵测量系统及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115200712B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210724093.7，技术领域涉及：G01J4/00；该发明授权一种穆勒矩阵测量系统及测量方法是由张元志;王贻坤;王全福;张洋;邓国庆;刘勇设计研发完成，并于2022-06-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种穆勒矩阵测量系统及测量方法在说明书摘要公布了：一种穆勒矩阵测量系统及测量方法，属于偏振探测技术领域，解决如何快速且完整的测量样品的穆勒矩阵问题，通过光源竖直向上发射调制光，第一垂直线偏振片用于将入射的调制光转换为线偏振光；第一相位延迟片、第二相位延迟片调制线偏振光的偏振态，数字微反射镜加载有条纹图片，带有条纹图片的线偏振光在待测生物组织中发生散射，散射光依次经过第三相位延迟片、第一相位延迟片、第二垂直线偏振片后由相机捕捉；通过第一相位延迟片、第二相位延迟片、第三相位延迟片、第四相位延迟片控制调制线偏振光的偏振态，来控制偏振光对待测生物组织的测量深度，共调制16偏振光的偏振态，提高了出射光光强值的计算精确性，能够计算出样品的完整穆勒矩阵。

本发明授权一种穆勒矩阵测量系统及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于穆勒矩阵测量系统的穆勒矩阵测量方法，其特征在于，所述的穆勒矩阵测量系统包括：光源系统11、起偏子系统12、待测样品台13、检偏子系统14；所述的光源系统11包括：光源111、透镜112、带通滤波器113；所述的起偏子系统12包括：数字微反射镜121、第一垂直线偏振片P1、第一相位延迟片LCVR1、第二相位延迟片LCVR2、第一成像透镜L1、第一反射镜122；所述的检偏子系统14包括：第二反射镜141、第三相位延迟片LCVR3、第四相位延迟片LCVR4、第二垂直线偏振片P2、第二成像透镜L2、相机142；所述的光源111竖直向上发射调制光，经过透镜112、带通滤波器113后产生单一波长的调制光，所述的数字微反射镜121将单一波长的调制光水平反射出去，沿着水平调制光的光路、从左到右依次设置第一垂直线偏振片P1、第一相位延迟片LCVR1、第二相位延迟片LCVR2、第一成像透镜L1、第一反射镜122，所述的数字微反射镜121加载有条纹图片，所述的第一垂直线偏振片P1用于将入射的调制光转换为线偏振光，所述的第一相位延迟片LCVR1、第二相位延迟片LCVR2用于调制线偏振光的偏振态；水平调制光经过第一垂直线偏振片P1、第一相位延迟片LCVR1、第二相位延迟片LCVR2、第一成像透镜L1后，再由第一反射镜122将带有条纹图片的线偏振光投射到待测样品台13上放置的待测生物组织表面；带有条纹图片的线偏振光在待测生物组织中发生散射，散射光通过第二反射镜141反射后水平射出，再依次经过第三相位延迟片LCVR3、第四相位延迟片LCVR4、第二垂直线偏振片P2、第二成像透镜L2后，由相机142捕捉；所述的测量方法，包括以下步骤：S1、根据待测样品的成像深度计算条纹图片的空间频率；S2、根据步骤S1计算出的空间频率，选择该空间频率下的三张不同相位的条纹图片，并将每张条纹图片加载到数字微反射镜121中；S3、使用起偏子系统12进行4次偏振态调制，检偏子系统14进行4次调制，两两组合，得到16组不同的偏振态组合；S4、对每组偏振态组合分别投影所述的三张不同相位的条纹图片，得到16组偏振态组合下的散射光的光强值，将每组偏振态组合下的散射光的光强值用斯托克斯矢量表示；S5、将每组偏振态组合下的散射光的光强值的斯托克斯矢量表示为检偏子系统14的穆勒矩阵、样品的穆勒矩阵、起偏子系统12的穆勒矩阵三者乘积的形式，通过取将每组偏振态组合下的散射光的光强值的斯托克斯矢量的总光强值元素，即斯托克斯矢量中的第一个元素，得到1个矩阵方程；S6、重复步骤S5，一共得到16组矩阵方程，通过求解该16组矩阵方程，从而求出样品的穆勒矩阵中的16个元素的值。

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