买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119575148B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510139260.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质是由陈鑫龙设计研发完成，并于2025-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及电子芯片技术领域。方法先使待测芯片在初始频率下运行测试程序，从而获取第一运行结果以及第一运行时长，基于第一运行结果确定待测芯片的第一等级；基于第一等级确定第一预设时间范围；在检测到第一运行时长超出第一预设时间范围的情况下，确定待测芯片的第一运行结果异常。而在检测到第一运行时长处于第一预设时间范围，且第一等级大于预设等级的情况下，使得待测芯片在极限频率下运行测试程序，获取第二运行结果，从而基于第二运行结果确定待测芯片的第二等级。本申请对芯片进行测试，并对芯片进行分级，并对芯片的分级进行验证，降低芯片分级出错的风险。

本发明授权芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：向待测芯片发送测试程序，将所述待测芯片的工作频率设定为初始频率，并控制所述待测芯片在所述初始频率下运行所述测试程序；获取所述待测芯片在所述初始频率下运行所述测试程序的第一运行结果以及第一运行时长；基于所述第一运行结果确定所述待测芯片的第一等级；基于所述第一等级确定第一预设时间范围；基于所述第一预设时间范围对所述第一运行时长进行检测处理；在检测到所述第一运行时长超出所述第一预设时间范围的情况下，确定所述待测芯片的所述第一运行结果异常，并生成第一异常警报；在检测到所述第一运行时长处于所述第一预设时间范围，且所述第一等级大于预设等级的情况下，将所述待测芯片的工作频率设定为极限频率，并控制所述待测芯片在所述极限频率下运行所述测试程序；获取所述待测芯片在所述极限频率下运行所述测试程序的第二运行结果；基于所述第二运行结果确定所述待测芯片的第二等级。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市晶存科技股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。