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龙图腾网恭喜河北工业大学;中国人民解放军陆军炮兵防空兵学院申请的专利一种高过载环境下元器件失效分析方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119578124B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510131437.7，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种高过载环境下元器件失效分析方法及装置是由刘启明;贾彬彬;李涛;宁全利;蒋滨安设计研发完成，并于2025-02-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高过载环境下元器件失效分析方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种高过载环境下元器件失效分析方法及装置，涉及计算机技术领域，该方法包括确定待分析弹载PCB，所述待分析弹载PCB包括多个待分析弹载元器件；从所述多个待分析弹载元器件中确定目标弹载元器件；获取所述目标弹载元器件在所述待分析弹载PCB中的目标位置；对所述待分析弹载PCB的目标位置进行检测，得到所述目标位置处的目标曲率；判断所述目标曲率是否大于所述目标位置对应的临界曲率，得到第一判断结果；如果所述第一判断结果表征所述目标曲率大于所述临界曲率，则确定所述目标弹载元器件失效。该方法能够对表面贴装元器件进行失效分析，为在高过载环境下的表面贴装元器件的失效研究提供有效指导。

本发明授权一种高过载环境下元器件失效分析方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种高过载环境下元器件失效分析方法，其特征在于，所述方法包括：确定待分析弹载PCB，所述待分析弹载PCB包括多个待分析弹载元器件；从所述多个待分析弹载元器件中确定目标弹载元器件；获取所述目标弹载元器件在所述待分析弹载PCB中的目标位置；对所述待分析弹载PCB的目标位置进行检测，得到所述目标位置处的目标曲率；判断所述目标曲率是否大于所述目标位置对应的临界曲率，得到第一判断结果；如果所述第一判断结果表征所述目标曲率大于所述临界曲率，则确定所述目标弹载元器件失效；所述对所述待分析弹载PCB的目标位置进行检测，得到所述目标位置处的目标曲率，包括：对所述待分析弹载PCB的目标位置进行检测，得到检测结果；如果所述检测结果表征所述目标弹载元器件与周围弹载元器件不存在接触，则确定所述目标位置处的目标曲率为第一数值，所述第一数值低于所述临界曲率对应的数值；如果所述检测结果表征所述目标弹载元器件与周围弹载元器件存在接触，获取与所述目标弹载元器件接触的周围弹载元器件在所述PCB中的位置与所述目标弹载元器件在所述PCB中的位置之间的第一距离，以及所述目标弹载元器件的第一高度；根据所述第一距离和所述第一高度，确定所述目标位置处的目标曲率。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人河北工业大学;中国人民解放军陆军炮兵防空兵学院，其通讯地址为：300401 天津市北辰区双口镇西平道5340号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。