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龙图腾网恭喜深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利一种芯片测试治具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119511054B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510092838.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片测试治具是由谢登煌;卢浩设计研发完成，并于2025-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试治具在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片测试治具，涉及芯片测试技术领域，能够实现治具的下压行程调节，提升治具的适用范围，降低生产成本。一种芯片测试治具的芯片测试过程：将芯片放入连接框架中，随后将芯片压紧座与连接框架扣紧，随后使用下压驱动组件驱动下压块下压，完成芯片压紧和测试工作后，复位下压驱动组件并打开芯片压紧座，取出芯片，放入下一个待测芯片即可。若需要测试的芯片大小没有发生变化，但是厚度发生变化，可以通过行程调节组件调节下压块的下压行程，避免压坏芯片或无法压紧芯片，进而实现一套治具适配多种厚度的芯片测试。

本发明授权一种芯片测试治具在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括：转接板（10），所述转接板（10）设置在芯片测试板上；连接框架（20），所述连接框架（20）可拆卸地设置在所述转接板（10）上；芯片压紧座（30），所述芯片压紧座（30）与所述连接框架（20）的一侧铰接，所述芯片压紧座（30）在所述转接板（10）上的正投影与所述连接框架（20）重合；所述芯片压紧座（30）包括：座体（31）、下压块（32）以及下压驱动组件（33），所述下压驱动组件驱动所述下压块（32）沿竖直方向上升或下降，所述下压块（32）将芯片压紧在测试板上；所述芯片压紧座（30）还包括行程调节组件（34），所述行程调节组件（34）能够调节所述下压块（32）的最大行程以使芯片不被压坏；所述行程调节组件（34）包括限位盘（341）、限位槽（342）、限位柱（343）以及限位盘调节机构（344），所述限位盘（341）可转动地套设在所述座体（31）上，所述座体（31）上开设有限位盘固定槽（312），所述限位盘（341）周向均匀设置有若干销轴孔（341a），若干销轴（341b）插设在若干所述销轴孔（341a）中，所述销轴（341b）与所述限位盘固定槽（312）的槽壁贴合，所述销轴（341b）被设置为沿所述限位盘固定槽（312）滑动，所述限位槽（342）开设在所述限位盘（341）上，所述限位柱（343）设置在旋钮（334）上，所述限位柱（343）在所述限位槽（342）中滑动，当转动所述旋钮（334），所述限位柱（343）从所述限位槽（342）一端运动至所述限位槽（342）另一端，所述限位盘调节机构（344）能够调节所述限位盘（341）与所述旋钮（334）的相对角度，以实现所述旋钮（334）旋转角度的调节。

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