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龙图腾网恭喜深圳市紫光同创电子股份有限公司申请的专利一种针对芯片级的测试验证系统及芯片检测的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114441934B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111602923.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种针对芯片级的测试验证系统及芯片检测的方法是由黄枭;李雪良;洪万帆;许明亮设计研发完成，并于2021-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对芯片级的测试验证系统及芯片检测的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种针对芯片级的测试验证系统，包括：上位机，发出测试指令、全局测试位流和指定测试位流；第一数据处理模块，接收全局测试位流，传输至存储模块；存储模块，存储第一数据处理模块输出的全局测试位流；测试控制模块，接收指定测试位流，控制第一数据处理模块读取与指定测试位流对应的配置信息对被测芯片进行配置；比对模块，接收测试控制模块读取的与指定测试位流对应的激励信息对被测芯片进行配置；采样被测芯片输出数据，与指定测试位流对应的激励信息中的期望数据对比，存储对比结果不一致的采样数据和采样时间。所述系统使从初产阶段进入量产阶段时测试成本最大化降低。本发明还提供了一种芯片检测的方法，也可实现上述效果。

本发明授权一种针对芯片级的测试验证系统及芯片检测的方法在权利要求书中公布了：1.一种针对芯片级的测试验证系统，其特征在于，所述系统包括：上位机，用于发出测试指令，提供全局测试位流和指定测试位流；第一数据处理模块，用于接收所述上位机发出的所述测试指令和所述全局测试位流，将所述全局测试位流分为地址信息、配置信息和激励信息，传输至存储模块；存储模块，用于存储所述第一数据处理模块输出的所述地址信息、所述配置信息和所述激励信息；测试控制模块，用于接收所述上位机发出的所述测试指令和所述指定测试位流，根据所述测试指令和所述指定测试位流，控制所述第一数据处理模块从所述存储模块读取与所述指定测试位流对应的地址信息、配置信息和激励信息；根据读取的与所述指定测试位流对应的配置信息对被测芯片进行配置；并将读取的与所述指定测试位流对应的激励信息传输至比对模块；比对模块，用于接收所述测试模块读取的与所述指定测试位流对应的激励信息，根据读取的与所述指定测试位流对应的激励信息对被测芯片进行配置；并采样被测芯片输出数据，将采样的输出数据与读取的与所述指定测试位流对应的激励信息中的期望数据进行对比，将对比结果不一致的采样数据和采样时间传输至所述测试控制模块和所述上位机。

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