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龙图腾网恭喜中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所申请的专利瞬变电磁响应校正方法、装置、电子设备和可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119644447B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510169248.9，技术领域涉及：G01V3/38；该发明授权瞬变电磁响应校正方法、装置、电子设备和可读存储介质是由智庆全;武军杰;王兴春;朱学森;邓晓红;陈晓东;赵毅设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本瞬变电磁响应校正方法、装置、电子设备和可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种瞬变电磁响应校正方法、装置、电子设备和可读存储介质，应用于大定源瞬变电磁框内响应校正系统，涉及电磁探测技术领域。方法包括：获取瞬变电磁实测响应数据，构造背景电阻率序列，再确定背景电阻率模型的响应数据，进一步确定偏差序列；基于瞬变电磁实测响应数据和偏差序列中的最小偏差值对应的电阻率模型确定校正系数；对瞬变电磁实测响应数据进行校正；通过计算获取不同测点位置瞬变电磁响应的校正系数，采用校正系数将框内响应校正到中心点，消除测点偏移距带来的响应畸变，解决瞬变电磁场不均匀性带来的测点间数据不一致的问题，为瞬变电磁响应分析和后续定量解释提供可靠的、具备空间一致性的瞬变电磁数据。

本发明授权瞬变电磁响应校正方法、装置、电子设备和可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种瞬变电磁响应校正方法，其特征在于，应用于大定源瞬变电磁框内响应校正系统，所述方法包括：获取工作区域内的瞬变电磁实测响应数据；其中，所述瞬变电磁实测响应数据包括多个测点的瞬变电磁响应向量；所述瞬变电磁响应向量包括多个时间道对应的瞬变电磁响应值；在预设的电阻率范围内构造背景电阻率序列；其中，所述背景电阻率序列包括多个背景电阻率；基于所述瞬变电磁实测响应数据和所述背景电阻率序列确定背景电阻率模型响应数据；基于所述背景电阻率模型响应数据和所述瞬变电磁实测响应数据确定偏差序列；确定所述偏差序列中最小偏差值对应的目标背景电阻率模型；基于所述瞬变电磁实测响应数据和所述目标背景电阻率模型确定校正系数；基于所述校正系数对所述瞬变电磁实测响应数据进行校正，得到校正后的所述瞬变电磁实测响应数据；基于所述瞬变电磁实测响应数据和所述背景电阻率序列确定背景电阻率模型响应数据的步骤，包括：通过下述公式确定所述背景电阻率模型响应数据： 其中，为第i个测点第j个时间道在第k个背景电阻率模型下的响应值，上标b表征此数据为所述背景电阻率模型响应数据，F为瞬变电磁响应函数，Pi为第i个测点的位置，tj为第j个时间道，ρk为所述第k个背景电阻率模型的电阻率；基于所述背景电阻率模型响应数据和所述瞬变电磁实测响应数据确定偏差序列的步骤，包括：通过下述公式确定所述背景电阻率模型响应数据和所述瞬变电磁实测响应数据的偏差值： 其中，dij为第i个测点第j个时间道的瞬变电磁响应值，为第i个测点第j个时间道在第k个背景电阻率模型下的响应值，上标b表征此数据为所述背景电阻率模型响应数据，δij为第i个测点在第k个背景电阻率模型下的偏差值；基于所述瞬变电磁实测响应数据和所述目标背景电阻率模型确定校正系数的步骤包括：通过下述公式确定所述校正系数： 其中，cij为所述校正系数，F为瞬变电磁响应函数，O为中心测点的位置，Pi为第i个测点的位置，tj为第j个时间道，为所述目标背景电阻率模型的电阻率。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所，其通讯地址为：300000 天津市东丽区东丽湖华纳景湖花园5-2-201、5-2-202室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。