恭喜此芯科技(无锡)有限公司;此芯科技(北京)有限公司秦双双获国家专利权
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龙图腾网恭喜此芯科技(无锡)有限公司;此芯科技(北京)有限公司申请的专利一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119397972B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411985574.9，技术领域涉及：G06F30/3312；该发明授权一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备是由秦双双;张伟浩;黄瀚文;王帆;胡清河设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提出一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备，根据基础测试用例对仿真对象进行仿真测试，获取第一仿真测试结果；根据第一仿真测试结果确定缺失的时序关键路径；获取缺失的时序关键路径对应的触发方式集合，触发方式集合包括一条或多条触发方式，触发方式包括触发配置的执行方式和触发指令的执行方式；将触发方式集合中一条触发方式插入基础测试用例，以得到修正后的第一测试用例。通过对时序关键路径的检测，完成基础测试用例调整，从而节省对待测芯片的设计深入了解的时间，从而缩短整个项目周期，也可以节省人员成本。
本发明授权一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种测试用例生成方法，其特征在于，所述方法包括：根据基础测试用例对仿真对象进行仿真测试，获取第一仿真测试结果，其中，所述仿真对象为待测芯片的仿真模型，所述第一仿真测试结果包括每一路仿真信号对应的波形图；根据所述第一仿真测试结果确定缺失的时序关键路径，其中，所述缺失的时序关键路径为所述仿真测试结果未覆盖的时序关键路径，所述时序关键路径表示其对应的两路仿真信号按照预定顺序在相邻周期分别进行翻转；获取所述缺失的时序关键路径对应的触发方式集合，所述触发方式集合包括一条或多条触发方式，所述触发方式包括触发配置的执行方式和触发指令的执行方式；将所述触发方式集合中一条触发方式插入基础测试用例，以得到修正后的第一测试用例。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人此芯科技(无锡)有限公司;此芯科技(北京)有限公司，其通讯地址为：214000 江苏省无锡市经济开发区太湖街道震泽路688号太湖信息技术产业园1号楼523-26；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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