恭喜杰平方半导体(上海)有限公司罗标获国家专利权
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龙图腾网恭喜杰平方半导体(上海)有限公司申请的专利一种用于高温镀膜的无校准测温系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222887584U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-20发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421524763.1，技术领域涉及：G01K11/32；该实用新型一种用于高温镀膜的无校准测温系统是由罗标;周正东;刘立安设计研发完成，并于2024-06-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于高温镀膜的无校准测温系统在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种用于高温镀膜的无校准测温系统，属于半导体镀膜技术领域，该用于高温镀膜的无校准测温系统，包括生长组件、光纤和激光测温计，所述生长组件用于布置待镀膜的半导体衬底，所述生长组件上开设有测温孔，所述光纤的一端与所述激光测温计的激光发射端连接，另一端与所述测温孔相连。通过光纤搭建激光测温计和测温孔之间光束通道，激光测温计发出的激光能够在光纤中经过全反射到达测温孔，增加光纤后，激光测温计发出的激光能够一直到达测温孔，所测得的温度结果准确且稳定地反映了测温孔的温度，消除了校准操作中的不稳定性。
本实用新型一种用于高温镀膜的无校准测温系统在权利要求书中公布了：1.一种用于高温镀膜的无校准测温系统，其特征在于，包括生长组件、光纤和激光测温计，所述生长组件用于布置待镀膜的半导体衬底，所述生长组件上开设有测温孔，所述光纤的一端与所述激光测温计的激光发射端连接，另一端与所述测温孔相连。
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