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龙图腾网恭喜长春长光辰英生物科学仪器有限公司申请的专利孔径相关共聚焦显微测量系统及其三维重构方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114964041B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210543379.5，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权孔径相关共聚焦显微测量系统及其三维重构方法是由郝梦凡;刘闯;李新立;王楠;翟晨旭;张凯凯;李备设计研发完成，并于2022-05-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本孔径相关共聚焦显微测量系统及其三维重构方法在说明书摘要公布了：本发明孔径相关共聚焦显微测量系统及其三维重构方法，包括：光源、第一准直透镜、第一偏振片、偏振分光器、转盘、镜筒透镜、14波片、物镜、第二偏振片、成像透镜以及探测器。本发明针对孔径相关的共聚焦显微镜提出了一种三维重构算法，其基于加权最小二乘法及其迭代处理方法的高斯拟合，可以快速高精度地拟合得到样品表面点的高度位置，在保留转盘的快速扫描特点的同时，通过从复合图像中减去离焦干扰的方式，大大减小了孔径间串扰的影响。

本发明授权孔径相关共聚焦显微测量系统及其三维重构方法在权利要求书中公布了：1.基于孔径相关共聚焦显微测量系统的三维重构方法，其特征在于，包括：孔径相关共聚焦显微测量系统，其设置有：光源、第一准直透镜、第一偏振片、偏振分光器、转盘、镜筒透镜、14波片、物镜、第二偏振片、成像透镜以及探测器；所述第一准直透镜设置在所述光源下方，所述第一偏振片设置在所述第一准直透镜下方，所述偏振分光器设置在所述第一偏振片下方，所述转盘设置在所述偏振分光器下方，所述镜筒透镜设置在所述转盘下方，所述14波片设置在所述镜筒透镜下方，所述物镜设置在所述14波片下方，所述物镜下方放置有样品；所述样品放置在位移台上；所述第二偏振片设置在所述偏振分光器左侧，所述成像透镜设置在所述第二偏振片的左侧，所述探测器设置在所述成像透镜的左侧；并保证所述第二偏振片的光轴与所述第一偏振片的光轴正交；通过移动位移台z轴对样品各高度位置的显微图像进行采集，结合样品各高度位置的显微图像重建出样品表面的三维形貌，可对样品的微观三维特征进行测量，还能对样品表面缺陷进行检测，其处理过程包括：S1:根据所测量的样品，设置系统的扫描间距和拟合度要求；S2：采集样品各高度下的共聚焦复合图像和宽场图像；S3：创建图像堆栈，用于存放各个焦面的纯共焦图像信息；创建高度位图，用于存放样品表面各点的高度位置信息；S4：依次读取样品各个高度位置的共聚焦复合图像和宽场图像S5:通过共聚焦复合图像减去一定比例系数的宽场图像，以获得各个高度下的纯共焦图像，并将其存入对应位置的所述图像堆栈中；所述一定比例系数取决于光路系统中具体的转盘设计参数，以去除背景干扰为选取标准；S6:所述图像堆栈中各图像同一位置的像素构成对应样品点的轴向响应曲线，对轴向响应曲线进行数据拟合，定位其峰值位置，并将峰值位置的信息存入所述高度位图的对应像素位置；所述峰值位置是指样品对应点的实际高度；所述数据拟合所采用的方法为基于加权最小二乘及其迭代处理方法的高斯拟合方法；S7:计算拟合度并与预先设定的拟合度要求阈值对比，在大噪声条件下会出现不符合阈值要求的情况，此时引入其迭代处理方法，对不满足拟合度要求的拟合结果进行迭代处理方法操作；对满足拟合度要求的拟合结果输出像素高度；S8:逐个检测像素，是否完成像素高度输出，当所有像素完成高度输出时，即高度位图中所有像素填充完毕，输出高度位图；S9：将高度位图中各像素的灰度值作为z轴高度，对高度位图进行3D化，输出样品的三维轮廓图；所述灰度值即高度位置信息。

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