兆易创新科技集团股份有限公司冯旭获国家专利权
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龙图腾网获悉兆易创新科技集团股份有限公司申请的专利存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118782134B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310362785.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法是由冯旭;李卫;付永庆设计研发完成，并于2023-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法，通过存储器测试模组耦接相应的输入输出接口和参数寄存器，可以使得存储器芯片在出厂前测试所需的基本电学参数通过输入输出接口输入，在出厂后测试所需的基本电学参数可以根据需要通过输入输出接口输入，也可以从参数寄存器中获取，由此同时兼容出厂前的生产者和出厂后的使用者的测试需求。而且当存储器测试模组集成在存储器芯片的封装体中时，在测试时只需要将探针扎在输入输出接口上，就可以通过存储器测试模组实现存储器芯片中的大量存储器裸芯批量化测试以及测试结果的批量化读取，相对现有的存储器芯片的测试引脚更少，降低测试成本，大大提高测试效率。
本发明授权存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试模组，其特征在于，耦接输入输出接口、参数寄存器和存储器芯片的各个存储器裸芯，所述参数寄存器用于存储所述存储器芯片出厂后测试所需的基本电学参数；其中， 所述存储器测试模组用于在所述存储器芯片出厂前，根据所述输入输出接口接收的基本电学参数控制相应的至少一个存储器裸芯的电源及测试管理系统，并进一步根据所述输入输出接口接收的测试指令对所述至少一个存储器裸芯进行逐一测试或批量化测试，以及，在所述存储器芯片出厂后，根据所述输入输出接口接收的基本电学参数或者所述参数寄存器中预存的基本电学参数控制相应的至少一个存储器裸芯的电源及测试管理系统，并进一步根据所述输入输出接口接收的测试指令对所述至少一个存储器裸芯进行逐一测试或批量化测试。
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