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龙图腾网恭喜北京机电工程研究所申请的专利温度采集组件及电弧风洞平板试件表面热流密度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114593835B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210124104.8，技术领域涉及：G01K7/02；该发明授权温度采集组件及电弧风洞平板试件表面热流密度测量方法是由刘迪;谢龙;曹杰;刘鹏;李晶;吕文亮设计研发完成，并于2022-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本温度采集组件及电弧风洞平板试件表面热流密度测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种温度采集装置及电弧风洞平板试件表面热流密度测量方法,该装置包括金属平板、隔热框、热电偶，隔热框包围在金属平板周边，金属平板下表面中心位安装置两个热电偶，两个热电偶探针到金属平板上表面距离不同，温度采集组件设置在电弧风洞喷管出口待测位置。该温度采集组件可以长时、重复测温，通过温度数据计算热流密度，结合本发明热流密度测量方法，既能短时间测量瞬态热流密度的变化过程，又能长时间测量稳态热流密度和辐射平衡温度。

本发明授权温度采集组件及电弧风洞平板试件表面热流密度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种电弧风洞平板试件表面热流密度测量方法，其特征在于，包括如下步骤 通过温度采集组件获得距平板试件上表面不同距离处的温度； 根据分离变量法，预设平板试件表面温度表达式为若干个时间函数与坐标函数的乘积再加合的形式； 利用温度采集组件获得的温度数据对温度表达式进行第一次反解修正； 利用Savitzky-Golay滤波函数对温度表达式进行第二次修正； 利用第二次修正的温度表达式得到平板试件表面温度，代入傅利叶导热定律得到平板试件表面热壁热流密度； 所述预设平板试件表面温度表达式为 其中，n为4，gix为坐标函数，fit为时间函数，t为时间，x为到金属平板上表面的距离变量； 所述坐标函数选取不同阶次的多项式或样条函数； 所述利用温度采集组件获得的温度数据对温度表达式进行第一次反解修正，具体为通过下式求解时间函数，代入温度表达式实现第一次修改正， 其中，x1、x2分别为温度采集点距离平板试件上表面的距离，T1和T2为温度采集组件两个温度采集点获得的温度，和为温度的时间变化率，λ为金属平板的材料导热系数，ρ为金属平板的材料密度，c为金属平板的材料比热容。

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