恭喜海光信息技术股份有限公司晋大师获国家专利权
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龙图腾网恭喜海光信息技术股份有限公司申请的专利标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、程序及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114358174B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111665060.1,技术领域涉及:G06F18/241;该发明授权标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、程序及介质是由晋大师;沈琪;王毓千设计研发完成,并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、程序及介质在说明书摘要公布了:本公开的实施例提供了标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、计算机程序产品和可读存储介质。本公开的实施例所提供的方法包括获取布局规划图,所述布局规划图包括多个预先布置的布局块;获取待测试标准单元列表,所述待测试标准单元列表中包括多个待测试标准单元;对于所述待测试标准单元列表中的每个所述待测试标准单元,确定其在所述布局规划图中的放通率;以及根据所确定的每个所述待测试标准单元的放通率,对所述多个待测试标准单元进行分类,从而快速筛选出与芯片布局设计最匹配的标准单元,便于对匹配性差的标准单元进行优化,提升布局空间利用率。
本发明授权标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、程序及介质在权利要求书中公布了:1.一种标准单元放通率测试分类方法,包括: 获取布局规划图,所述布局规划图包括多个预先布置的布局块; 获取待测试标准单元列表,所述待测试标准单元列表中包括多个待测试标准单元; 对于所述待测试标准单元列表中的每个所述待测试标准单元,确定其在所述布局规划图中的放通率;以及 根据所确定的每个所述待测试标准单元的放通率,对所述多个待测试标准单元进行分类; 其中,所述布局规划图中能够放置所述标准单元的位置为标准位置; 对于所述待测试标准单元列表中的每个所述待测试标准单元,确定其在所述布局规划图中的放通率,包括: 将所述待测试标准单元列表中的所述待测试标准单元放置在每个所述标准位置进行设计规则检查,在不产生设计规则检查违例的情况下,确定所述待测试标准单元所处位置为有效位置;其中,所述有效位置的数量与所述标准位置的数量之比为所述标准单元的放通率。
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