恭喜季华实验室秦燕亮获国家专利权
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龙图腾网恭喜季华实验室申请的专利扫描测量设备及其控制方法、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120084226B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510572751.9，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权扫描测量设备及其控制方法、存储介质是由秦燕亮;涂政乾;安宁;于帅北;黄伟华;徐成;李义设计研发完成，并于2025-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本扫描测量设备及其控制方法、存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种扫描测量设备及其控制方法、存储介质，涉及测量设备技术领域，扫描测量设备包括：基架、测量机构、运料机构，其中，基架包括输送台和支撑架，输送台上安装有运料机构，支撑架上安装有测量机构；测量机构包括成像光谱仪、照明机构、转动机构和物镜，成像光谱仪的入射狭缝位于物镜的像面位置，照明机构安装在物镜的侧面，转动机构与物镜传动连接；照明机构发出的光束经由物镜在待测样品上形成线状照明区域；成像光谱仪经由物镜接收待测样品产生的测量信号。本申请通过在测量机构中引入转动机构，可以实现转动机构与运料机构的协同运动，从而对封装薄膜沿任意方向进行扫描测量，以较低成本提高了封装薄膜检测的效率以及准确性。
本发明授权扫描测量设备及其控制方法、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种扫描测量设备，所述扫描测量设备包括：基架、测量机构、运料机构，其中，所述基架包括输送台和位于所述输送台上方的支撑架，所述输送台上安装有所述运料机构，所述支撑架上安装有所述测量机构，其特征在于，所述测量机构包括成像光谱仪、照明机构、转动机构和物镜，所述成像光谱仪的入射狭缝位于所述物镜的像面位置，所述照明机构安装在所述物镜的侧面，所述物镜依次由第一透镜组、道威棱镜和第二透镜组组成，其中，所述第一透镜组位于邻近所述运料机构的一侧，所述第二透镜组位于邻近所述成像光谱仪的一侧； 所述转动机构与所述道威棱镜传动连接； 所述照明机构发出的光束依次经由所述道威棱镜和所述第一透镜组在待测样品上形成线状照明区域； 所述成像光谱仪依次经由所述第一透镜组、所述道威棱镜和所述第二透镜组接收所述待测样品产生的测量信号，其中，所述测量信号为所述待测样品上所述线状照明区域的反射光。
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