晶豪科技股份有限公司林佑道获国家专利权
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龙图腾网获悉晶豪科技股份有限公司申请的专利存储器测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114203244B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010908118.X，技术领域涉及：G11C29/02；该发明授权存储器测试电路是由林佑道;姚泽华;陈懿范设计研发完成，并于2020-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器测试电路在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储器测试电路，包含：一第一闭锁电路，用以接收一第一输入地址和一错误指示信号，以产生一第一地址；一第一电子熔丝群，用以接收该第一地址以产生一输出地址；一第二闭锁电路，用以接收该错误指示信号；一第二电子熔丝群，用以根据该第二闭锁电路接收该错误指示信号后的输出产生一损坏指示信号；以及一比较电路，用以根据该第一地址和该第二输入地址的关系以及该第一闭锁电路或该第一电子熔丝群的状态来启动该第二闭锁电路。
本发明授权存储器测试电路在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试电路，包含： 第一闭锁电路，用以接收第一输入地址和错误指示信号，以产生第一地址，该错误指示信号用以指示该第一输入地址是否为错误地址； 第一电子熔丝群，用以接收该第一地址以产生输出地址； 第二闭锁电路，用以接收该错误指示信号； 第二电子熔丝群，用以根据该第二闭锁电路接收该错误指示信号后的输出产生损坏指示信号，该损坏指示信号用以指示有损坏的字线数量是否超过预定冗余字线数量；以及 比较电路，用以比较该第一地址和第二输入地址，并根据该第一地址和该第二输入地址的关系以及该第一闭锁电路或该第一电子熔丝群的状态来产生比较信号以启动该第二闭锁电路。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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