买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：马丁·贝尔茨

申请日：2015-08-19

公开（公告）日：2017-05-24

公开（公告）号：CN106716088A

专利技术分类：..干涉光谱法[2006.01]

专利摘要：本发明涉及一种干涉仪，包括：第一干涉仪臂及第二干涉仪臂，其中，所述第一干涉仪臂及第二干涉仪臂被配置成：从待成像的原始图像的中心像点出发的第一中心光束穿过所述第一干涉仪臂，从所述待成像的原始图像的所述中心像点出发的第二中心光束穿过所述第二干涉仪臂，其中，所述第一中心光束与所述第二中心光束在穿过所述第一或第二干涉仪臂之后叠加并在所述第一中心光束与所述第二中心光束的叠加点处生成k垂直＝0‑干涉；从所述待成像的原始图像的像点出发的第一光束穿过所述第一干涉仪臂，以及从所述待成像的原始图像的所述像点出发的第二光束穿过所述第二干涉仪臂，其中，所述第一光束与所述第二光束在穿过所述第一或第二干涉仪臂之后重叠于所述第一中心光束与所述第二中心光束的所述叠加点处，以及其中，在所述叠加点处，所述第一光束垂直于所述第一中心光束的波矢分量与所述第二光束垂直于所述第二中心光束的波矢分量相反。本发明还涉及一种用于由使用根据本发明所述的干涉仪测量的图像重建原始图像的方法。本发明又涉及一种用于校准根据本发明所述的干涉仪的方法。

专利权项：一种干涉仪100，包括：第一干涉仪臂150；及第二干涉仪臂152，其中，所述第一干涉仪臂150及第二干涉仪臂150被配置成：从待成像的原始图像156的中心像点154出发的第一中心光束112穿过所述第一干涉仪臂150，从所述待成像的原始图像156的所述中心像点154出发的第二中心光束118穿过所示第二干涉仪臂152，其中，所述第一中心光束112与所述第二中心光束118在穿过所述第一或第二干涉仪臂150、152之后叠加并在所述第一中心光束112与所述第二中心光束118的叠加点157处生成k垂直＝0‑干涉；从待成像的原始图像156的像点158出发的第一光束160穿过所述第一干涉仪臂150，以及从所述待成像的原始图像156的所述像点158出发的第二光束162穿过所述第二干涉仪臂152，其中，所述第一光束160与所述第二光束162在穿过所述第一或第二干涉仪臂150、152之后重叠于所述第一中心光束112与所述第二中心光束118的所述叠加点157处，以及其中，在所述叠加点157处，所述第一光束160垂直于所述第一中心光束112的波矢分量164与所述第二光束162垂直于所述第二中心光束118的波矢分量166相反。

百度查询： 马丁·贝尔茨 干涉仪