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申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日：2021-05-14
公开（公告）日：2023-03-24
公开（公告）号：CN113312867B
主分类号：G06F30/39
分类号：G06F30/39
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2023.03.24#授权;2021.09.14#实质审查的生效;2021.08.27#公开
摘要：本发明提供一种对Finger晶体管自动进行偏置的方法，包括：获取Finger晶体管的信息，对源极引脚、漏极引脚进行分组，对引脚进行组间分割和组间合并，生成对Finger晶体管中单根晶体管进行测试的目标源极引脚、漏极引脚和栅极引脚。本发明方法，通过执行有限的步骤，自动完成对Finger晶体管的偏置过程，能确定对Finger晶体管中选定的单根晶体管进行测试的目标源极引脚、目标漏极引脚和目标栅极引脚，对厂商进行设计生产等的指导具有重大意义。
主权项：1.一种对Finger晶体管自动进行偏置的方法，用于生成对Finger晶体管中单根晶体管进行测试的引脚，其特征在于，具体包括：步骤1：获取Finger晶体管的信息，包括：源极、漏极、栅极以及源极引脚、漏极引脚和栅极引脚；所述源极引脚、所述漏极引脚和所述栅极引脚都在M层，且所述源极引脚、所述漏极引脚和所述栅极引脚分别通过对应的通孔与所述源极、所述漏极、所述栅极相连；将Finger晶体管中的待测单根晶体管的栅极记为目标Gate；设栅极延伸方向为水平方向，垂直于栅极延伸方向为垂直方向；步骤2：对所述源极引脚、所述漏极引脚进行分组，以所述目标Gate在所述水平方向的中线为界，将位于目标Gate一侧的通孔对应的源极引脚记为S1，以及对应的漏极引脚记为D1；将位于目标Gate另一侧的通孔对应的源极引脚记为S2，以及对应的漏极引脚记为D2；步骤3：对所述源极引脚、所述漏极引脚进行组间分割，包括对所述S1、所述S2进行组间分割，使所述S1和所述S2之间不连通；对所述D1、所述D2进行组间分割，使所述D1和所述D2之间不连通；步骤4：对所述源极引脚、所述漏极引脚进行组间合并，包括对所述S1、所述D1进行组间合并，使所述S1和所述D1之间连通并标记为SD1；对所述S2、所述D2进行组间合并，使所述S2和所述D2之间连通并标记为SD2；步骤5：确定目标源极引脚、目标漏极引脚、目标栅极引脚。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 一种对Finger晶体管自动进行偏置的方法
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