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一种降低读纠错失败概率的方法、装置及介质 

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申请/专利权人:苏州浪潮智能科技有限公司

摘要:本申请公开了一种降低读纠错失败概率的方法、装置及介质,涉及NAND领域,为了降低初始电压阈值偏移影响以降低读纠错失败概率,本申请将划分的实验温度值与实验磨损值任意组合,采集各组合下初始电压阈值偏移后的电压偏移值;选择电压偏移值中的一个值作为工作电压偏移值;接收读取任务;根据工作电压偏移值与默认电压值执行读取任务,读取NAND。通过综合温度因素、磨损因素对NAND的影响,分析NAND的初始电压阈值偏移影响程度,获取到合适的工作电压偏移值,在读取NAND时,通过工作电压偏移值对默认电压值进行校准,以降低初始电压阈值偏移影响以降低读纠错失败概率,提高首次读NAND纠错成功的概率,避免进入纠错流程。

主权项:1.一种降低读纠错失败概率的方法,其特征在于,包括:获取NAND的工作温度区间、磨损程度区间;将所述工作温度区间按第一预设个数划分,生成多个实验温度值;将所述磨损程度区间按第二预设个数划分,生成多个实验磨损值;将所述实验温度值与所述实验磨损值任意组合,采集各组合下初始电压阈值偏移后的电压偏移值;选择所述电压偏移值中的一个值作为工作电压偏移值;接收读取任务;根据所述工作电压偏移值与默认电压值执行所述读取任务,读取NAND。

全文数据:

权利要求:

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