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申请/专利权人：中国船舶重工集团公司第七0七研究所
申请日：2022-01-20
公开（公告）日：2024-02-23
公开（公告）号：CN114543783B
主分类号：G01C19/58
分类号：G01C19/58
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.02.23#授权;2022.06.14#实质审查的生效;2022.05.27#公开
摘要：本发明涉及一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统，激光器输出的激光通过光隔离器后经起偏器进行起偏，起偏后的探测光束经过激光分束器分束成第一反射光及第一透射光，第一反射光进入功率稳定部件，第一透射光经过原子气室与工作原子作用后经原子气室后端0°反射镜反射再次穿过原子气室到达激光分束器分束成第二透射光、第二反射光，第二透射光经过起偏器后被光隔离器隔离，第二反射光依次经过λ4波片、光弹调制器和检偏器后进入光电探测器，光电探测器对信号进行光电转换后的输入信号进入锁相放大器进行解调。本发明的用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统，使第一透射光双次穿过原子气室进行作用，增大信号幅值，提高检测灵敏度，同时也便于光路的小型化。
主权项：1.一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统，其特征在于：包括激光器（1），光隔离器（2）、起偏器（3）、激光分束器（4）、原子气室（5）、0°反射镜（6）、λ4波片（7）、光弹调制器（8）、检偏器（9）及光电探测器（10）；激光器（1）输出的激光通过光隔离器（2）后，再经起偏器（3）进行起偏，起偏后的探测光束经过激光分束器（4）分束成第一反射光及第一透射光，所述第一反射光进入功率稳定部件，所述第一透射光经过原子气室（5）与工作原子作用后经原子气室（5）后端的0°反射镜（6）反射再次穿过原子气室（5）到达激光分束器（4）分束成第二透射光、第二反射光，所述第二透射光经过起偏器（3）后被光隔离器（2）隔离，所述第二反射光依次经过λ4波片（7）、光弹调制器（8）和检偏器（9）后进入光电探测器（10），光电探测器（10）对信号进行光电转换后的输入信号进入锁相放大器进行解调，所述锁相放大器的参考信号由光弹调制器（8）提供，锁相放大器输出载体转动信号；所述起偏器（3）的偏振方向为水平方向，λ4波片（7）的光轴方向与起偏器（3）偏振方向同向，光弹调制器（8）的光轴方向与水平方向成45°，检偏器（9）的偏振方向为竖直方向。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国船舶重工集团公司第七0七研究所 一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统及检测方法
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