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申请/专利权人：江西兆驰半导体有限公司
摘要：本发明公开了一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备，涉及半导体集成电路技术领域，该方法包括：根据LED芯片测试的电参数和光参数，在芯片测试机上建立若干recipe；对所有的LED芯片进行分类；基于电参数和光参数，将同一类别的LED芯片的不同recipe进行关联，得到不同recipe的关联系数以及不同recipe的基准数据；将LED校正芯片进行对应recipe测试，得到LED校正芯片的测试数据；基于测试数据与基准数据的差异，对对应recipe进行修正；基于差异和同一类别的不同recipe的关联系数，得到不同recipe的补偿系数，以对其他recipe进行修正补偿，从而得到同一类别的LED芯片的不同recipe校正，本发明能够解决现有技术中程序recipe文件数量太多，校正recipe时间长，效率低并且易出错的技术问题。
主权项：1.一种芯片测试recipe管理方法，其特征在于，所述方法包括：根据LED芯片测试的电参数和光参数，在芯片测试机上建立若干不同型号和不同尺寸的recipe；将所有的LED芯片进行预处理，以对所有的LED芯片进行分类；基于所述电参数和所述光参数，将同一类别的LED芯片的不同recipe进行关联，得到不同recipe的关联系数以及不同recipe的基准数据；将LED校正芯片进行对应recipe测试，得到所述LED校正芯片的测试数据；基于所述测试数据与所述对应recipe的基准数据的差异，对所述对应recipe进行修正；基于所述差异和同一类别的不同recipe的关联系数，得到不同recipe的补偿系数，以对同一类别的其他recipe进行修正补偿，从而得到同一类别的LED芯片的不同recipe校正。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 江西兆驰半导体有限公司 一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备
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