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【发明授权】防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法及系统_南通纳科达聚氨酯科技有限公司_202311703453.6 

申请/专利权人:南通纳科达聚氨酯科技有限公司

申请日:2023-12-13

公开(公告)日:2024-04-19

公开(公告)号:CN117388302B

主分类号:G01N23/2251

分类号:G01N23/2251;G06T7/00;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.19#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要:本发明涉及数据处理技术领域,提供防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法及系统,包括:配置缺陷检测指标门限值,包括孔隙、直径、厚度、填料聚团数和表面接触角;通过扫描电镜计算第一薄膜样品的参数,基于门限值校验,获取薄膜缺陷指标;以填料类型和TPU体系为约束,生成多条缺陷指标变化趋势曲线并拟合曲线,生成填料推荐掺杂比例;试生产第二薄膜样品,若满足门限值,则标识缺陷检测合格标签,解决单一的图像检测无法有效识别防覆冰TPU薄膜的缺陷,容易发生漏检和误检技术问题,实现通过采用数据分析和机器学习技术,对照覆冰TPU薄膜样品,对缺陷进行分类和预测,确保防覆冰TPU薄膜的质量,有效提高了检测的准确性和可靠性技术效果。

主权项:1.防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法,其特征在于,包括:配置缺陷检测指标门限值,其中,所述缺陷检测指标门限值包括孔间隙门限值、孔直径门限值、厚度门限值、填料聚团数量和表面接触角门限值;输送第一TPU薄膜样品,使用场发射扫描电镜进行样品形貌扫描,计算第一孔间隙、第一孔直径、第一厚度、第一填料聚团数量和第一表面接触角;基于所述孔间隙门限值、所述孔直径门限值、所述厚度门限值、所述填料聚团数量和所述表面接触角门限值,对所述第一孔间隙、所述第一孔直径、所述第一厚度、所述第一填料聚团数量和所述第一表面接触角进行校验,获得薄膜缺陷指标;以掺杂填料类型和TPU聚氨酯体系为约束,遍历所述薄膜缺陷指标进行制备数据挖掘,生成多条缺陷指标变化趋势曲线;激活变化趋势曲线拟合通道,对所述多条缺陷指标变化趋势曲线进行拟合,生成填料推荐掺杂比例;根据所述填料推荐掺杂比例执行试生产,获得第二TPU薄膜样品;当所述第二TPU薄膜样品满足所述缺陷检测指标门限值,对所述第二TPU薄膜样品标识缺陷检测合格标签。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南通纳科达聚氨酯科技有限公司 防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法及系统

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