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【发明公布】基于固定平面天线的扫描对正方法、装置、扫描架、介质_广东纳睿雷达科技股份有限公司_202311688588.X 

申请/专利权人:广东纳睿雷达科技股份有限公司

申请日:2023-12-08

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117929863A

主分类号:G01R29/10

分类号:G01R29/10;G01B11/00;G01B11/14

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本发明提出了基于固定平面天线的扫描对正方法、装置、扫描架、介质,包括:基于平面调台构建参考平面和三维坐标系,基于平面天线构建目标平面,在三维坐标系中确定包括参考原点、参考横轴点和参考竖轴点,并确定各参考点在目标平面的投影点;通过测量探头在各参考点对投影点测距得到第一距离、第二距离和第三距离,基于参考横轴点与参考竖轴点确定第一参考长度和第二参考长度;基于参考点和投影点构建直角三角形,确定扫描架调整的偏摆角、俯仰角和横滚角。在平面天线固定不可调位的情况下,基于偏摆角、俯仰角和横滚角调整扫描架的位姿,使得扫描架对正平面天线,提高天线辐射特性测试的准确性。

主权项:1.一种基于固定平面天线的扫描对正方法,其特征在于,应用于扫描架,所述扫描架包括平面调台、偏摆调台、移动模组和测量探头,所述平面调台的底侧设置有推杆组,所述偏摆调台设置于所述平面调台的上表面,所述偏摆调台可沿竖轴旋转,所述移动模组设置于所述偏摆调台上表面,所述移动模组可沿横轴移动,所述测量探头垂直且可移动设置于所述移动模组,所述测量探头朝向于平面天线,所述测量探头的移动方向为竖轴方向,所述平面天线至少包括第一天线阵元和第二天线阵元,所述基于固定平面天线的扫描对正方法包括:构建参考平面和目标平面,基于所述参考平面构建三维坐标系,其中,所述参考平面平行于所述平面调台的上表面,所述三维坐标系的纵轴朝向于平面天线,所述三维坐标系的横轴和所述纵轴位于所述参考平面,所述目标平面为所述平面天线所处的平面;基于所述移动模组和测量探头的移动控制,通过所述测量探头在所述三维坐标系的参考原点检测与投影原点之间的第一距离、在参考横轴点检测与投影横轴点之间的第二距离、在参考竖轴点检测与投影竖轴点之间的第三距离,其中,所述参考横轴点位于所述三维坐标系的横轴,所述参考竖轴点位于所述三维坐标系的竖轴,所述投影原点为所述参考原点在所述目标平面的投影点,所述投影横轴点为所述参考横轴点在所述目标平面的投影点,所述投影竖轴点为所述参考竖轴点在所述目标平面的投影点;基于所述参考横轴点的横坐标确定第一参考长度,基于所述参考竖轴点的竖坐标确定第二参考长度;基于所述第一距离、所述第三距离和所述第二参考长度确定俯仰角,基于所述第一距离、所述第二距离和所述第一参考长度确定偏摆角;基于所述偏摆角控制所述偏摆调台转动,基于所述俯仰角控制所述推杆组驱动所述平面调台沿第一坐标平面转动,其中,所述第一坐标平面为所述三维坐标系的纵轴和竖轴所成平面;通过所述测量探头确定第一中心坐标和第二中心坐标,其中,所述第一中心坐标为所述第一天线阵元的中心在第二坐标平面的投影坐标,所述第二中心坐标为所述第二天线阵元的中心在所述第二坐标平面的投影坐标,所述第二坐标平面为所述三维坐标系的横轴和竖轴所成平面;基于所述第一中心坐标和第二中心坐标确定横滚角,基于所述横滚角控制所述推杆组驱动所述平面调台沿所述第二坐标平面转动。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 广东纳睿雷达科技股份有限公司 基于固定平面天线的扫描对正方法、装置、扫描架、介质

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