申请/专利权人：苏州矽利康测试系统有限公司

申请日：2023-08-25

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN220854984U

主分类号：G01R1/067

分类号：G01R1/067;G01R1/073

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.26#授权

摘要：本实用新型公开了一种CIS探针卡进光调节结构及CIS探针卡，包括支撑座，支撑座上安装光源；光圈架，光圈架上开设有聚光孔，聚光孔可对光源发射的光进行聚拢，使光源射出的光线穿过聚光孔后直接引导至芯片感光区域上方的镜头上；支撑座和光圈架之间设置有高度调节机构，高度调节机构用于调节光圈架在支撑座上的安装高度；本方案设计的一种CIS探针卡进光调节结构，通过在光源和镜头之间设置光圈架，并在光圈架上开设聚光孔，通过聚光孔将限制光源发出的光方向进行聚拢，将光直接引导到芯片感光区域上方的镜头上；同时，通过高度调节机构调节光圈架的高度，从而调整聚光孔与光源之间的距离，控制并调节进光量，从而有效地提高芯片的测试精度。

主权项：1.一种CIS探针卡进光调节结构，其特征在于：所述进光调节结构包括：支撑座，所述支撑座上安装光源；光圈架，所述光圈架上开设有聚光孔，所述聚光孔可对光源发射的光进行聚拢，使所述光源射出的光线穿过所述聚光孔后直接引导至芯片感光区域上方的镜头上；所述支撑座和所述光圈架之间设置有高度调节机构，所述高度调节机构用于调节所述光圈架在所述支撑座上的安装高度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州矽利康测试系统有限公司 CIS探针卡进光调节结构及CIS探针卡

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