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申请/专利权人：西安电子科技大学
申请日：2024-02-01
公开（公告）日：2024-05-14
公开（公告）号：CN118036528A
主分类号：G06F30/3315
分类号：G06F30/3315;G06F30/337
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.31#实质审查的生效;2024.05.14#公开
摘要：本发明公开了一种缓解数字电路NBTI老化的输入矢量生成方法和装置，方法包括：针对数字电路选用的所有种类的单元，建立感知NBTI效应的老化单元库；基于对老化单元库的老化仿真，确定数字电路中的NBTI老化关键路径；基于NBTI老化关键路径，采用线性规划方法确定数字电路中的NBTI老化关键门；基于NBTI老化关键门生成缓解NBTI老化的故障列表，并根据故障列表使用ATPG工具生成缓解NBTI老化的输入矢量。本发明对关键路径及关键门的定位更准确，无需在设计初期为NBTI效应预留额外的裕量、改变电路的结构，不会在缓解NBTI效应的同时给电路的面积、功耗等带来额外开销，无需在求解缓解老化的矢量时产生过大消耗，且生成效率较高。
主权项：1.一种缓解数字电路NBTI老化的输入矢量生成方法，其特征在于，包括：S1，针对数字电路选用的所有种类的单元，建立感知NBTI效应的老化单元库；S2，基于对所述老化单元库的老化仿真，确定所述数字电路中的NBTI老化关键路径；S3，基于所述NBTI老化关键路径，采用线性规划方法确定所述数字电路中的NBTI老化关键门；S4，基于所述NBTI老化关键门生成缓解NBTI老化的故障列表，并根据所述故障列表使用ATPG工具生成缓解NBTI老化的输入矢量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 一种缓解数字电路NBTI老化的输入矢量生成方法和装置
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