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一种GIS或GIL内部插接触头状态检测方法及系统 

申请/专利权人:国网河南省电力公司电力科学研究院

申请日:2024-02-22

公开(公告)日:2024-05-28

公开(公告)号:CN118091390A

主分类号:G01R31/327

分类号:G01R31/327

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开

摘要:本发明公开了一种GIS或GIL内部插接触头状态检测方法及系统,所述方法包括:对母线导体两端施加恒流直流电流并测量整体回路电阻R0;在GIS或GIL外筒壁的插接触头标记处施加外磁场并测量外磁场下整体回路电阻R1、磁感应强度B1;在所述插接触头标记处施加反向外磁场,测量反外磁场下整体回路电阻R2,调整反向外磁场的大小,使R2满足R1‑R0=‑R2‑R0,并测量的磁感应强度B2;根据B1、B2计算外磁场、反向外磁场下的触头触指压力FX1、FX2;根据FX1、FX2计算初始触头触指压力FX0,根据FX0判断插接触头状态。本发明能够在不拆解、重装GIS或GIL的情况下进行内部插接触头状态的精准检测。

主权项:1.一种GIS或GIL内部插接触头状态检测方法,所述GIS或GIL包括内部母线导体和外筒壁,母线导体上设有插接触头,外筒壁外表面设有插接触头标记,其特征在于,所述方法包括:步骤1:对待测GIS或GIL母线导体的两端施加恒流直流电流,并测量此时的GIS或GIL母线的整体回路电阻R0;步骤2:在GIS或GIL外筒壁的插接触头标记处施加外磁场,并测量外磁场下GIS或GIL母线的整体回路电阻R1、磁感应强度B1;步骤3:在GIS或GIL外筒壁的插接触头标记处施加反向外磁场,测量反外磁场下GIS或GIL母线的整体回路电阻R2,调整反向外磁场的大小,使R2满足R1-R0=-R2-R0,并测量此时的磁感应强度B2;步骤4:分别根据B1、B2计算外磁场、反向外磁场下的触头触指压力变量FX1、FX2;步骤5:根据FX1、FX2计算初始触头触指压力FX0,根据FX0判断插接触头状态。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 国网河南省电力公司电力科学研究院 一种GIS或GIL内部插接触头状态检测方法及系统

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