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申请/专利权人:广州大学
摘要:本发明涉及超滤技术领域,特别是涉及一种基于库贝尔卡‑蒙克理论监测膜污染的荧光校正方法,包括以下步骤,S1采用前表面三维荧光光法检测超滤膜,获得初始荧光数据;S2使用便携式分光光度计检测超滤膜,获得漫反射数据;S3将漫反射数据转换为库贝尔卡‑蒙克理论函数,计算总缓解系数;S4利用总缓解系数计算修正函数;S5将初始荧光数据除以修正函数得到校正后的荧光数据。本发明采用上述技术方案,用于校正吸收和散射以获得真实的荧光光谱,提升了膜污染表征的精度,解决了现有技术中荧光检测不准确的问题。
主权项:1.一种基于库贝尔卡-蒙克理论监测膜污染的荧光校正方法,其特征在于:包括以下步骤,S1采用前表面三维荧光光法检测超滤膜,获得初始荧光数据;S2使用便携式分光光度计检测超滤膜,获得漫反射数据;S3将漫反射数据转换为库贝尔卡-蒙克理论函数,计算总缓解系数;S4利用总缓解系数计算修正函数;S5将初始荧光数据除以修正函数得到校正后的荧光数据,将校正后的荧光数据与参考数据进行对比,判断超滤膜是否存在膜污染。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 广州大学 一种基于库贝尔卡-蒙克理论监测膜污染的荧光校正方法
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